Инструменты нанотехнологий

EDX-720/800HS/900H. Энергодисперсионный рентгенфлуоресцентный спектрометр

Спектрометры серии EDX предназначены для быстрого неразрушающего определения качественного и количественного элементного состава твёрдых и жидких образцов, порошков, гранул, пластин, плёнок.

Диапазон определяемых элементов: от Na до U (EDX-720/900HS), от С по U (EDX-800HS).

  • Большая кюветная камера предназначена для анализа образцов диаметром до 300 мм и высотой до 150 мм.
  • Программное обеспечение позволяет определять толщину и элементный состав тонких плёнок и покрытий. Метод фоновых фундаментальных параметров позволяет анализировать плёнки органической природы.
  • Пять типов первичных фильтров минимизируют влияние фона, что увеличивает соотношение сигнал/шум и значительно улучшает пределы обнаружения элементов в образцах различной природы.
  • Программа сопоставления состава использует библиотеки данных и исключает необходимость наличия стандартных образцов для количественного анализа.
  • Анализ может проводиться на воздухе, в вакууме или среде гелия (для определения лёгких элементов в жидкостях).
  • Жидкий азот необходим только на время измерений (EDX-720/800HS).
  • Полупроводниковый детектор с термоэлектрическим охлаждением (EDX-900HS).
  • Цифровая камера (опция) предназначена для наблюдения за анализируемым участком образца в процессе исследования.

Использование коллиматоров (опция) позволяет проводить анализ микровключений и дефектов в образцах а также снизить фон при исследовании проб малых размеров.

Технические характеристики
Диапазон элементов Na11 — U92 (EDX 720/900HS), 6C — 92U (EDX-800HS) XRF-1800
Рентгеновский генератор трубка с анодом Rh, воздушное охлаждение напряжение 5–50 кВ, ток 1–1000 мкА
Облучаемая площадь диаметр 10 мм
Коллиматоры (опция) автоматический выбор 4 типов: 1, 3, 5 и 10 мм
либо 1, 3 и 10 мм
Детекторы EDX-720/800HS: Si(Li), жидкий азот необходим только на время измерений, расход 1 л/день
EDX-900HS: Si drift, термоэлектрическое охлаждение
Кюветное отделение
  • анализ на воздухе, в вакууме или среде гелия (опция)
  • 8 или 16-позиционный автосамплер
  • устройство для вращения образца
  • приставка для прецизионной установки образца (опция)
  • цифровая камера для наблюдения образца (опция)
Программное обеспечение
Качественный анализ автоматический и ручной режим расшифровки пиков
Количественный анализ
  • метод калибровочных кривых
  • матричная коррекция
  • метод фундаментальных параметров (ФП)
  • метод фоновых ФП
  • анализ тонких плёнок методом ФП
Программа сопоставления состава (интенсивность/содержание)
Коррекции на интенсивность, энергию, полуширину пика
Мониторинг состояния прибора
Размеры 580 х 650 х 420 мм
Масса 85 кг

Области применения

Электронная промышленность
Анализ состава и дефектов тонких плёнок, полупроводников, магнито-оптических дисков, жидких кристаллов. Определение токсичных металлов в электронных компонентах в соответствии с требованиями Европейского Сообщества WEEE, RoHS и ELV.
Химическая промышленность
Органические и неорганические материалы, катализаторы, пигменты, краски, резины, упаковочные материалы.
Нефтяная и нефтехимическая промышленность
Определение Ni, V, S, других элементов в нефтепродуктах и присадках. Определение неизвестных веществ в смазочных материалах.
Строительные и конструкционные материалы
Анализ керамических материалов, цементов, стёкол, кирпичей, глин.
Медицинские материалы
Анализ широкого круга продуктов, включая катализаторы для синтеза. Количественное определение таких важных элементов как галогены, S, Р.
Сельское хозяйство и пищевая промышленность
Анализ почв, удобрений, пищевых продуктов.
Чёрная и цветная металлургия
Анализ чёрных и цветных металлов и сплавов, припоев, благородных металлов, руд и шлаков.
Машиностроение
Толщина и композиционный состав покрытий.
Окружающая среда
Анализ почв, сточных вод, золы, фильтров.
Академическая наука
Геологический и археологический анализ.

Информация предоставлена ООО «Аналит»

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ