Инструменты нанотехнологий

Elli-Ret. Система измерения фазы

ООО «Промэнерголаб» предлагает систему измерения фазы Elli-Ret для анализа сильных, слабых и нулевых фазовых пленок производства Ellipso Technology (Корея).

Система измерения затухания Elli-Ret определяет оптические оси, параметры Rin и Rth фазовых пленок и пропускание или оси затухания поляризационных пленок.

Рабочие характеристики
Измеряемые константы: фазы (Rin, Rth), оптические оси, (nx,ny,nz), угол β
Диапазон толщин: от 10 нм до 50 мкм (зависит от типа пленки)
Производительность: < 25 с на точку
Повторяемость: <0.005 нм (Rin)
Система измерения фазы
Источник света: галогеновая лампа, коллимационная система, разъем оптического волокна SMA
Длина волны: 550 нм
Модуль анализатора: одиночный кристалл поляризатора с высокоточным вращательным механизмом
Модуль измерителя фазы: высокоточный вращательный механизм
Моторизированное линейное перемещение и управляющая система
Ахроматическая полимерная четверть-волновая пластинка
Модуль анализатора: одиночный кристалл поляризатора с высокоточным
Оптический кодер
Крепление образца: механизм моторизированного вертикального и горизонтального вращения, контроллер моторизированного независимого вращения, платформа крепления образца
Применение
Поляризационные/LCD фазовые пленки
Оптические оси (пропускание, быстрое, медленное)
Двулучепреломление (одноосное, двухосное), фаза
Притирка (фотонастройка) направления или угол притирки (фотовыравнивание)
Опции
Спектроскопическая система: спектральный диапазон 400~800 нм
Близ нулевая фазовая система: ультрамалая анизотропия фотонастроенного PI (Δnd~0.005 нм)

Информация предоставлена Промэнерголаб, ООО

Отправить сообщение представителю компании

Рубрикатор

Проекты, одобренные РОСНАНО

Все проекты РОСНАНО

Последние поступления

Поиск оборудования

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ