Инструменты нанотехнологий

Hitachi S-3400N. Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссией

InterLab Inc. предлагает сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-3400N от компании Hitachi (Япония).

Электронный сканирующий микроскоп Hitachi S-3400N — аналитический прибор, способный демонстрировать высокое разрешение в широком диапазоне ускоряющих напряжений и давлений остаточного вакуума в камере {режим VP-SEM). Микроскоп оснащен термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Рабочая камера имеет 10 портов (фланцев) для подключения дополнительного оборудования.

S-3400N позволяет исследовать образцы диаметром до 200 мм.

  • Разрешение 3 нм (глубокий вакуум) и 4 нм (при 270 Па)
  • Моторизованный столик образца с возможностью перемещения по 5 осям, наклоном образца от -20 до +90 градусов.
  • Можно исследовать образец до 80 мм высотой.
  • Новый дизайн камеры образца оптимизирован для одновременной установки и использования EDS, WDS и EBSD детекторов.
  • Полная автоматизация всех функций (автоматическое насыщение катода, авто фокус, автоматическая регулировка луча по осям и другие).
  • Турбомолекулярный насос позволяет сократить время необходимое для замены образца до 90 секунд и делает ненужным водяной контур.
  • Микроскоп устанавливается за 1 день практически без подготовки помещения.

Информация предоставлена Interlab

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ