Инструменты нанотехнологий

InduSEM. Мобильный сканирующий электронный микроскоп для контроля качества непосредственно на производстве

InduSem — компактный и легко транспортируемый сканирующий электронный микроскоп для комплексного анализа образцов и проведения контроля качества с высоким разрешением различных материалов.

InduSEM — универсальный сканирующий электронный микроскоп для различных областей применения. Он спроектирован на основе СЭМ для работы с переменным вакуумом, максимально большой камерой образцов и расширенным моторизованным столиком, что позволяет работать с различными типами образцов.

Благодаря компактному исполнению и возможности легкой транспортировки, InduSEM является идеальным решением для высокоточного контроля качества и обнаружения отказов применительно к производственным процессам различных типов непосредственно на рабочем месте.

Планшетный компьютер с оригинальным сенсорным интерфейсом управления EasySEM™ выполняет многочисленные автоматизированные функции, в том числе, самодиагностику, и позволяет проводить полноценные исследования даже начинающему пользователю.

Основные преимущества InduSEM

Промышленное исполнение

  • Компактность и колесная база для легкой транспортировки
  • Максимально большая камера позволяет и столик образцов с расширенным диапазоном перемещения позволяют проводить исследования крупных и массивных образцов
  • Возможность работы в переменном вакууме для исследования непроводящих образцов
  • Сенсорный интерфейс управления для простого проведения операций
  • Активная электромагнитная подвеска эффективно снижает влияние внешних вибраций

Современная электронная оптика

  • Уникальная четырехлинзовая электронная оптика Wide Field Optics™, предназначенная для получения изображений в различных режимах.
  • Запатентованная промежуточная электромагнитная линза (IML) выполняет функции устройства для смены финальной апертуры.
  • Линзы и катушки изготовлены из высококачественных материалов, что обеспечивает ультравысокую скорость сканирования (вплоть до 20 нс/пиксель) с минимизированными динамическими эффектами искажения.
  • Обновленная технология In-Flight Beam Tracing™ для контроля и оптимизации рабочих характеристик и параметров электронного пучка в реальном времени.
  • Исполнение колонны без механически центрируемых элементов позволяет сделать настройку и регулировку электронно-оптической системы полностью автоматической.

Аналитический потенциал

  • Большая камера образцов и 5-ти осевой полностью моторизованный столик образцов
  • Интерфейсные порты камеры с оптимизированной аналитической геометрией для микроанализа
  • Чувствительные детекторы электронов с высококлассными YAG кристаллами
  • Широкий выбор детекторов и аксессуаров
  • Мощные турбомолекулярный и форвакуумный насосы обеспечивают достижение рабочего вакуума за несколько минут

Автоматизация

  • Полное управление микроскопом из программного обеспечения без необходимости механической настройки
  • Все процедуры настройки микроскопа автоматизированы, в том числе центрирование и настройка электронной оптики
  • Расширение программного обеспечения по автоматизации анализа частиц, получения изображения с большой площади образца и морфологического анализа
  • Встроенный язык программирования (Python) открывает возможности для создания собственных процедур автоматизации

Информация предоставлена ТЕСКАН, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ