Инструменты нанотехнологий

JSPM-4500. Сканирующий зондовый сверхвысоковакуумный микроскоп

JSPM-4500 является сверхвысоковакуумным сканирующим зондовым микроскопом (СВВ СЗМ), предназначенным для исследования поверхностей с высоким разрешением. Этот прибор может использоваться как отдельный прибор для лаборатории, которая имеет свою сверхвысоковакуумную многокамерную систему, так и как основа для создания на его основе интегрированной лаборатории для исследования поверхности.

Прибор в полной комплектации включает как вакуумную камеру для пробоподготовки и осуществления различных воздействий на образец, так и камеру для наблюдения. К системе могут быть добавлены дополнительные камеры для подготовки образцов и анализа поверхности.

Возможно наблюдение поверхности в режимах сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии (СТМ и АСМ, соответственно). Поставляются опции для исследования образцов при температурах от 20К до 1500К. В число СТМ-режимов входят CITS, I-V, S-V, и I-S.

Стандартный АСМ включает контактную микроскопию, микроскопию сил трения, изображение в токах, бесконтактную и дискретную контактную микроскопию с частотным детектированием, и фазовое изображение.

В камеру анализа поверхности дополнительно могут быть установлены РФЭС, LEED (дифракция медленных электронов), а также вся вакуумная система может быть соединена с камерой молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ или MBE) для исследования чистых атомных поверхностей без их экспозиции на воздухе.

Информация предоставлена Interactive Corporation. Российское представительство

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ