Инструменты нанотехнологий

Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Анализ трехмерной структуры

61

Snotra. Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с криоультрамикротомом

Производитель: ООО «Нано Скан Технология» (Россия)

Поставщик: ООО «Нано Скан Технология»

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Научно-исследовательские комплексы, Анализ рельефа поверхности, Устройства для пробоподготовки

Ключевые слова: сканирующий, криоультрамикротом, микротом, зондовая

Snotra — сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с Крио- ультрамикротомом для измерения морфологии и свойств поверхности образцов. Реализованная в Snotra технология позволяет сохранить исходную структуру биологических и мягких/гидратированных полимерных образцов в процессе подготовки объектов и измерений.

10

BioScience АСМ. Система для биоисследований

Производитель: JPK Instruments (Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Конфокальные микроскопы, Флуоресцентные микроскопы, Атомно-силовые микроскопы, Сканирующие зондовые микроскопы, Сканирующие туннельные микроскопы, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: исследование клеток, бионанотехнология, асм, сзм, атомно-силовой микроскоп

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает систему для биоисследований BioScience АСМ.

10

Цифровой измерительный микроскоп Keyence VHX-2000

Производитель: Keyence

Поставщик: Микросистемы, ООО

Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника

Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.

5

Lyncee Tec DHM T1000. Голографический микроскоп

Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.

5

Agilent Nano Indenter G200

Производитель: Agilent Technologies (USA)

Поставщик: ЗАО «Компания НТНК»

Рубрикатор: Нанотвердомеры, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: наноиндентор, инструментальные испытания вдавливанием, твердость, механические характеристики

Наноиндентор предназначен для проведения инструментальных испытаний вдавливанием и проведения скретч теста (испытаний царапанием). Система Nano Indenter G200 полностью соответствует стандарту ИСО 14577 частям 1, 2 и 3.

5

Triboindenter TI 950. Сканирующий наноиндентор

Производитель: Hysitron Inc (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Анализ топографии, Нанотвердомеры, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: исследование свойств материалов наноиндентирование скретч-тест твердомер

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.

2

Elli-SE. Эллипсометр для измерения толщин тонких пленок

Производитель: Ellipso Technology (Корея)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: эллипсометры

ООО «Промэнерголаб» предлагает эллипсометр Elli-SE производства Ellipso Technology (Корея) для измерения толщин тонких пленок и оптических констант (n и k).

Elli-Ret. Система измерения фазы

Производитель: Ellipso Technology (Корея)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, эллипсометры, метрология тонких пленок

ООО «Промэнерголаб» предлагает систему измерения фазы Elli-Ret для анализа сильных, слабых и нулевых фазовых пленок производства Ellipso Technology (Корея).

Elli-RI. Спектроскопический рефлектометр

Производитель: Ellipso Technology (Корея)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, метрология тонких пленок

ООО «Промэнерголаб» предлагает систему измерения пленок солнечных элементов Elli-RI производства Ellipso Technology (Корея).

Elli-RP. Спектроскопический рефлектометр

Производитель: Ellipso Technology (Корея)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, эллипсометры, метрология тонких пленок

ООО «Промэнерголаб» предлагает спектроскопический рефлектометр Elli-RP для надежного, быстрого и точного измерения толщин пленок в различных технологических процессах производства Ellipso Technology (Корея).

Рубрикатор

Проекты, одобренные РОСНАНО

Все проекты РОСНАНО

Последние поступления

Поиск оборудования

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ