Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
Производитель: ООО «Нано Скан Технология» (Россия)
Поставщик: ООО «Нано Скан Технология»
Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Научно-исследовательские комплексы, Анализ рельефа поверхности, Устройства для пробоподготовки
Ключевые слова: сканирующий, криоультрамикротом, микротом, зондовая
Snotra — сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с Крио- ультрамикротомом для измерения морфологии и свойств поверхности образцов. Реализованная в Snotra технология позволяет сохранить исходную структуру биологических и мягких/гидратированных полимерных образцов в процессе подготовки объектов и измерений.
Производитель: JPK Instruments (Германия)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Конфокальные микроскопы, Флуоресцентные микроскопы, Атомно-силовые микроскопы, Сканирующие зондовые микроскопы, Сканирующие туннельные микроскопы, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: исследование клеток, бионанотехнология, асм, сзм, атомно-силовой микроскоп
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает систему для биоисследований BioScience АСМ.
Производитель: Keyence
Поставщик: Микросистемы, ООО
Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника
Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.
Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.
Производитель: Agilent Technologies (USA)
Поставщик: ЗАО «Компания НТНК»
Рубрикатор: Нанотвердомеры, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: наноиндентор, инструментальные испытания вдавливанием, твердость, механические характеристики
Наноиндентор предназначен для проведения инструментальных испытаний вдавливанием и проведения скретч теста (испытаний царапанием). Система Nano Indenter G200 полностью соответствует стандарту ИСО 14577 частям 1, 2 и 3.
Производитель: Hysitron Inc (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Анализ топографии, Нанотвердомеры, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: исследование свойств материалов наноиндентирование скретч-тест твердомер
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.
Производитель: Ellipso Technology (Корея)
Поставщик: Промэнерголаб, ООО
Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: эллипсометры
ООО «Промэнерголаб» предлагает эллипсометр Elli-SE производства Ellipso Technology (Корея) для измерения толщин тонких пленок и оптических констант (n и k).
Производитель: Ellipso Technology (Корея)
Поставщик: Промэнерголаб, ООО
Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, эллипсометры, метрология тонких пленок
ООО «Промэнерголаб» предлагает систему измерения фазы Elli-Ret для анализа сильных, слабых и нулевых фазовых пленок производства Ellipso Technology (Корея).
Производитель: Ellipso Technology (Корея)
Поставщик: Промэнерголаб, ООО
Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, метрология тонких пленок
ООО «Промэнерголаб» предлагает систему измерения пленок солнечных элементов Elli-RI производства Ellipso Technology (Корея).
Производитель: Ellipso Technology (Корея)
Поставщик: Промэнерголаб, ООО
Рубрикатор: Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: микроэлектроника, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, эллипсометры, метрология тонких пленок
ООО «Промэнерголаб» предлагает спектроскопический рефлектометр Elli-RP для надежного, быстрого и точного измерения толщин пленок в различных технологических процессах производства Ellipso Technology (Корея).
На страницу назад
На страницу вперед
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
