Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Оже-электронная спектроскопия

Среди всех электронно-спектроскопических методик особое место занимает оже-электронная спектроскопия (ОЭС), которая, пожалуй, является самой распространенной методикой. Эффект, на котором основана ОЭС, был открыт в 1925 году французским физиком Пьером Оже (P. Auger) (отсюда и название метода).

Оже-процесс можно разделить на две стадии. Первая – ионизация атомов внешним излучением (рентгеновским, быстрыми электронами, ионами) с образованием вакансии на одной из внутренних оболочек. Такое состояние атома неустойчиво, и на второй стадии происходит заполнение вакансии электроном одной из вышележащих уровней энергии атома. Выделяющаяся при этом энергия может быть испущена в виде кванта характеристического рентгеновского излучения, но может быть передана третьему атомному электрону, который в результате вылетает из атома, т. е. наблюдается оже-эффект.

Оказывается, что, измерив энергию такого электрона, можно определить, какому элементу Периодической таблицы Менделеева соответствуют обстреливаемые электронным пучком атомы. Такая возможность объясняется тем, что энергия оже-электронов не зависит от энергии бомбардирующих электронов, а определяется только электронной структурой атомов, которая хорошо известна.

Оже-спектроскопия – область электронной спектроскопии, в основе которого лежат измерения энергии и интенсивностей токов оже-электронов, а так же анализ формы линий спектров оже-электронов, эмитированных атомами, молекулами и твердыми телами в результате оже-эфеккта. Энергия оже-электронов определяется природой испускающих атомов с окружающими, что приводит к небольшим изменениям энергии оже-электронов. Поэтому по оже-спектрам можно определить элементарный состав приповерхностных слоев твердых тел, получать информацию о межатомных взаимодействиях, осуществлять химический анализ газа.

Англоязычный термин: AES — Auger electron spectroscopy.

5

ESCA 2SR. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр

Производитель: ScientaOmicron (Швеция - Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Приборы для микроанализа поверхности, Фазовый анализ поверхности

Ключевые слова: анализ поверхности, рфэс оже эсха, спектрометры

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает новый комплекс для анализа поверхности методиками РФЭС (ЭСХА) с гибкой конфигурацией ESCA 2SR от компании ScientaOmicron (Швеция — Германия).

5

HAXPES Lab. Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном

Производитель: ScientaOmicron (Швеция-Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Ключевые слова: HAXPES, РФЭС, XPS, ЭСХА

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном HAXPES Lab от компании ScientaOmicron (Швеция-Германия).

5

NanoSAM. Оже-спектрометр

Производитель: ScientaOmicron (Швеция - Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: спектрометры, оже-спектроскопия

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает лабораторию NanoSAM для работы на сложных материалах от компании ScientaOmicron (Швеция — Германия).

2

JAMP-9500F. Оже-микрозонд

Производитель: JEOL Ltd. (Япония)

Поставщик: Tokyo Boeki Ltd

Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия

Ключевые слова: оже-электронная спектроскопия, оже-анализаторы

Оже-микрозонд JAMP-9500F сочетает в себе свойства высокоточного Оже-анализатора с энергетическим разрешением (ΔE/E=0.05%) и хорошего растрового электронного микроскопа с разрешением во вторичных электронах не хуже 3 нм на 24-миллиметровом рабочем отрезке.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ