Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Аналитические системы

75

Certus Optic. Сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с оптическим микроскопом

Производитель: ООО «Нано Скан Технология» (Россия)

Поставщик: ООО «Нано Скан Технология»

Рубрикатор: Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы, Сканирующие зондовые микроскопы, Сканирующие туннельные микроскопы

Ключевые слова: сканирующий, микроскоп, зондовый, сзм

Certus Optic — сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с традиционным оптическим микроскопом. В этом приборе реализованы основные методики сканирующей зондовой микроскопии и традиционной оптической микроскопии.

13

HECUS S3-MICRO. Комбинированная система мало- и широкоуглового рассеяния рентгеновского излучения

Производитель: Hecus X-Ray Systems (Австрия)

Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»

Рубрикатор: Малоугловое рентгеновское рассеяние, Аналитические системы

Ключевые слова: рентгеновские дифрактометры

Прибор Hecus S3-MICRO разработан в соответствии с высокими современными стандартами и может применяться в производстве новейших материалов, для изучения твердых образцов, гелей, макромолекулярных растворов, полимеров и тонких пленок, а также в биомедицине, фармакологии, пищевой промышленности и при контроле качества.

12

Zyvex S100. Наноманипулятор с точностью позиционирования 5 nm

Производитель: Zyvex Instruments (США)

Поставщик: ЗАО «ЭлекТрейд-М»

Рубрикатор: Позиционеры, манипуляторы, Научно-исследовательские комплексы, Аналитические системы

Ключевые слова: наноманипулятор, нанотехнологические комплексы

Зондовая станция Zyvex S100 представляет собой интегрированную систему позиционирования для проведения измерений совместно со сканирующими электронными микроскопами (SEM) или ионно-лучевыми приборами (FIB) при исследованиях и разработках в микро- и нанообластях.

10

Zeiss Neon® 60. Аналитический автоэмиссионный электронный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Аналитические системы, Ионно-лучевая обработка, Просвечивающие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронный микроскоп, ПЭМ

Аналитический автоэмиссионный электронно-ионный (двухлучевой) растровый электронный микроскоп для исследования наноструктур, нанопрепарирования, электронно-лучевой и ионно-лучевой литографии, инспекционных целей и подготовки сверхтонких срезов для исследований методами ПЭМ.

7

OCA 35. Прибор для измерения краевого угла смачивания

Производитель: DataPhysics Instruments GmbH (Россия)

Поставщик: Контроль качества, ЗАО

Рубрикатор: Анализ смачиваемости, Аналитические системы

Ключевые слова: краевой угол, смачиваемость, поверхностное натяжение

Прибор OCA 35 предназначен для полностью автоматизированного определения смачиваемости твёрдых поверхностей, свободной энергии поверхности твёрдых образцов и её составляющих. Производитель DataPhysics Instruments GmbH, Германия.

2

Zeiss NVision 40. Сканирующий электронный микроскоп серии CrossBeam

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Аналитические системы, Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронный микроскоп, СЭМ

NVision 40 — новая и мощная комбинация ионной (FIB) и GEMINI колонн.

2

Однореакторный комплекс по производству фуллеренов и фуллеренолов

Производитель: ЗАО ИЛИП (Россия)

Поставщик: Инновации ленинградских институтов и предприятий, ЗАО

Рубрикатор: Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы, Синтез наноматериалов

Ключевые слова: фуллерен, фуллеренол, производство

ЗАО ИЛИП предлагает комплекс оборудования производства фуллеренов для проведения исследований свойств и отработки технологий получения УНК (углеродных нанокластеров).

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ