Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Электронная микроскопия

Электронная микроскопия — совокупность электронно-зондовых методов исследования микроструктуры твердых тел, их локального состава и микрополей (электрических, магнитных и др.) с помощью электронных микроскопов - приборов, в которых для получения увеличения изображений используют электронный пучок.

Различают два главных направления электронной микроскопии: трансмиссионную (просвечивающую) и растровую (сканирующую). Они дают качественно различную информацию об объекте исследования и часто применяются совместно.

Известны также отражательная, эмиссионная, оже-электронная, лоренцова и иные виды электронной микроскопии, реализуемые, как правило, с помощью приставок к трансмиссионным и растровым электронным микроскопам.

56

JCM-5700. Высокопроизводительный компактный растровый электронный микроскоп

Производитель: JEOL Ltd. (Япония)

Поставщик: Tokyo Boeki Ltd

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: растровый электронный микроскоп, термоэмиссионный источник

JCM-5700 — компактный растровый электронный микроскоп с термоэмиссионным источником электронов. Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов или настольных растровых электронных микроскопов, JCM-5700 имеет возможности полноценного растрового электронного микроскопа.

55

MIRA 3 LM. Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: сэм, катод Шоттки

MIRA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный автоэмиссионным катодом Шоттки.

34

LYRA 3 FEG. Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и сфокусированным ионным пучком

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ, ионный пучок

LYRA 3 FEG — удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Сфокусированный ионный пучок, как дополнение к автоэмиссионному микроскопу, предназначен для модификации поверхности.

30

InduSEM. Мобильный сканирующий электронный микроскоп для контроля качества непосредственно на производстве

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ

InduSem — компактный и легко транспортируемый сканирующий электронный микроскоп для комплексного анализа образцов и проведения контроля качества с высоким разрешением различных материалов.

27

JEM-2100. Просвечивающий электронный микроскоп

Производитель: JEOL Ltd. (Япония)

Поставщик: Tokyo Boeki Ltd

Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы

Ключевые слова: JEM-2100, JEOL, микроскопия

Микроскоп JEM-2100 явился логическим развитием знаменитого микроскопа JEM-2010, который долгое время занимал положение стандарта «де факто» в промышленных приложениях электронной микроскопии и демонстрировал превосходные показатели качества изображений и аналитических возможностей среди 200 кВ электронных микроскопов высокого разрешения.

24

VEGA 3 LM. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: сэм

VEGA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Обладая большой камерой и оптимизированной геометрией портов, микроскоп идеально подходит для исследования больших образцов в случаях, когда требуется значительный аналитический потенциал.

16

MIRA 3 XM. Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ, катод Шоттки, аэтоэмиссия

MIRA 3 XM — cканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки, максимально большой камерой и расширенным моторизованным столиком.

16

VEGA 3 SB. Компактный сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ

VEGA 3 SB — компактный сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Для него характерны аналитическая камера образцов, моторизованный столик и современная электронная оптика. Обладая превосходным качеством изображения при сравнительно невысокой цене, микроскоп является прекрасным выбором для исследований небольших образцов в промышленности и для использования в целях обучения.

12

Zeiss Orion. Сканирующий гелиево-ионный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ZEISS

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

Ключевые слова: гелиево-ионный микроскоп

Гелиево-ионный микроскоп Carl Zeiss Orion - абсолютно новый прорыв в микроскопии. Благодаря уникальным физическим параметрам гелиево-ионного пучка, ORION способен обеспечивать такими характеристиками: ангстремное разрешение, глубина резкости, материальный контраст, какие до сих пор невозможно было получить при помощи традиционных инструментов микроскопии.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ