Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Эллипсометрия

Эллипсометрия — высокочувствительный и точный поляризационно-оптический метод исследования поверхностей и границ раздела различных сред (твердых, жидких, газообразных), основанный на изучении изменения состояния поляризации света после взаимодействия его с поверхностью границ раздела этих сред.

Для тонких пленок толщиной порядка от 10 нм до единиц микронов эллипсометрия позволяет одновременно определять толщину и показатель преломления (в общем случае комплексный), а так же наличие неоднородности показателя преломления по толщине вдоль направления нормали к поверхности.

Nanofilm EP4. Визуализирующий эллипсометр

Производитель: Accurion (Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Спектральные эллипсометры

Ключевые слова: эллипсометр, эллипсометрия, микроскопия

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает визуализирующий эллипсометр Nanofilm EP4 от компании Accurion (Германия).

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ