Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
Сканирующие гелиево-ионные микроскопы
Сканирующий гелиево-ионный микроскоп — это наноисследовательский комплекс, сочетающий в себе все удобства растровой и характеристики просвечивающей микроскопии. Уже первые эксперименты с опытной моделью HeIM показали потрясающий результат. Благодаря уникальным физическим параметрам гелиево-ионного пучка, гелиево-ионный микроскоп способен обеспечивать такими характеристиками: ангстремное разрешение, глубина резкости, материальный контраст, какие до сих пор невозможно было получить при помощи традиционных инструментов микроскопии.
Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)
Поставщик: ZEISS
Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы
Ключевые слова: гелиево-ионный микроскоп
Гелиево-ионный микроскоп Carl Zeiss Orion - абсолютно новый прорыв в микроскопии. Благодаря уникальным физическим параметрам гелиево-ионного пучка, ORION способен обеспечивать такими характеристиками: ангстремное разрешение, глубина резкости, материальный контраст, какие до сих пор невозможно было получить при помощи традиционных инструментов микроскопии.
Производитель: FEI Company
Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО
Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы, Сканирующие гелиево-ионные микроскопы, Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: Helios, G4, HX, FEI, электронный, ионный, микроскоп
ООО «Серния» представляет электронно-ионный микроскоп Helios G4 HX от компании FEI Company для нужд лабораторий анализа отказов в микроэлектронике.
Производитель: FEI Company
Поставщик: Нанопромимпорт, ЗАО
Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы
ЗАО «Нанопромимпорт» предлагает систему фокусированного пучка ионов V400CE™ FEI Company.
Производитель: FEI Company
Поставщик: Нанопромимпорт, ЗАО
Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы
ЗАО «Нанопромимпорт» предлагает системы фокусированного пучка ионов V600™ и V600CE™ FEI Company.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ЗАО «Экситон Аналитик»
Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ, ионный пучок
Сканирующий электронный микроскоп со сфокусированным ионным пучком, максимально большой камерой, высоким и переменным вакуумом в камере. VELA FIBxSEM — это удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Возможность модификации поверхности сфокусированным ионным пучком расширяет границы применения сканирующего электронного микроскопа.
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
