Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

Сканирующий гелиево-ионный микроскоп — это наноисследовательский комплекс, сочетающий в себе все удобства растровой и характеристики просвечивающей микроскопии. Уже первые эксперименты с опытной моделью HeIM показали потрясающий результат. Благодаря уникальным физическим параметрам гелиево-ионного пучка, гелиево-ионный микроскоп способен обеспечивать такими характеристиками: ангстремное разрешение, глубина резкости, материальный контраст, какие до сих пор невозможно было получить при помощи традиционных инструментов микроскопии.

12

Zeiss Orion. Сканирующий гелиево-ионный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

Ключевые слова: гелиево-ионный микроскоп

Гелиево-ионный микроскоп Carl Zeiss Orion - абсолютно новый прорыв в микроскопии. Благодаря уникальным физическим параметрам гелиево-ионного пучка, ORION способен обеспечивать такими характеристиками: ангстремное разрешение, глубина резкости, материальный контраст, какие до сих пор невозможно было получить при помощи традиционных инструментов микроскопии.

Helios G4 HX FEI. Электронно-ионный микроскоп

Производитель: FEI Company

Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО

Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы, Сканирующие гелиево-ионные микроскопы, Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: Helios, G4, HX, FEI, электронный, ионный, микроскоп

ООО «Серния» представляет электронно-ионный микроскоп Helios G4 HX от компании FEI Company для нужд лабораторий анализа отказов в микроэлектронике.

V400CE™ FEI Company. Система фокусированного пучка ионов

Производитель: FEI Company

Поставщик: Нанопромимпорт, ЗАО

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

ЗАО «Нанопромимпорт» предлагает систему фокусированного пучка ионов V400CE™ FEI Company.

V600™ и V600CE™ FEI Company. Системы фокусированного пучка ионов

Производитель: FEI Company

Поставщик: Нанопромимпорт, ЗАО

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

ЗАО «Нанопромимпорт» предлагает системы фокусированного пучка ионов V600™ и V600CE™ FEI Company.

VELA 3 FIBxSEM. Сканирующий электронный микроскоп, оснащенный колонной со сфокусированным ионным пучком

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ЗАО «Экситон Аналитик»

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ, ионный пучок

Сканирующий электронный микроскоп со сфокусированным ионным пучком, максимально большой камерой, высоким и переменным вакуумом в камере. VELA FIBxSEM — это удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Возможность модификации поверхности сфокусированным ионным пучком расширяет границы применения сканирующего электронного микроскопа.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ