Инструменты нанотехнологий

Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Анализ поверхности

56

НаноСкан-Компакт. Сканирующий нанотвердомер

Производитель: ТИСНУМ (Россия)

Поставщик: ФГУ ТИСНУМ

Рубрикатор: Нанотвердомеры

Ключевые слова: нанотвердомеры

Сканирующие нанотвердомеры «НаноСкан» предназначены для исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.

17

ZetaView (ЗетаВью). Видеомикроскоп лазерного рассеяния

Производитель: Microtrac Inc.

Поставщик: Microtrac Inc

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия

Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц

ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.

15

Accucolor™. Программное обеспечение

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение

Ключевые слова: светодиодные гетероструктуры, Accucolor, светодиоды

Accucolor является специализированным программным обеспечением, разработанным для работы со светодиодными гетероструктурами видимого диапазона, которое может интегрироваться в современные системы измерений фотолюминесценции и спектров отражения в белом свете RPMSigma и RPM2000.

10

Цифровой измерительный микроскоп Keyence VHX-2000

Производитель: Keyence

Поставщик: Микросистемы, ООО

Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника

Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.

10

НаноСкан-3D. Сканирующий нанотвердомер

Производитель: ТИСНУМ (Россия)

Поставщик: ФГУ ТИСНУМ

Рубрикатор: Нанотвердомеры

Ключевые слова: нанотвердомеры

Сканирующие нанотвердомеры «НаноСкан-3D» предназначены для исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.

7

OCA 35. Прибор для измерения краевого угла смачивания

Производитель: DataPhysics Instruments GmbH (Россия)

Поставщик: Контроль качества, ЗАО

Рубрикатор: Анализ смачиваемости, Аналитические системы

Ключевые слова: краевой угол, смачиваемость, поверхностное натяжение

Прибор OCA 35 предназначен для полностью автоматизированного определения смачиваемости твёрдых поверхностей, свободной энергии поверхности твёрдых образцов и её составляющих. Производитель DataPhysics Instruments GmbH, Германия.

5

ESCA 2SR. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр

Производитель: ScientaOmicron (Швеция - Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Приборы для микроанализа поверхности, Фазовый анализ поверхности

Ключевые слова: анализ поверхности, рфэс оже эсха, спектрометры

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает новый комплекс для анализа поверхности методиками РФЭС (ЭСХА) с гибкой конфигурацией ESCA 2SR от компании ScientaOmicron (Швеция — Германия).

5

Four Dimesions 280I. Система измерения сопротивления четырехзондовым методом

Производитель: Four Dimensions Inc. (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии

Ключевые слова: четырехзондовый метод, измерение удельного сопротивления пластин, измерение сопротивления слитков, удельное сопротивление

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает настольную систему для измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом Four Dimesions 280I.

5

KLA-Tencor Candela CS-20. Установка для автоматизированной инспекции поверхности на производстве

Производитель: KLA-Tencor (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии

Ключевые слова: инспекция поверхности, полупроводниковые материалы, контроль технологического процесса, контроль обработки пластин, кремний, арсенид галия, фосфит индия, карбид кремния, сапфир, стекло, контроль технологических загрязнений

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает установку KLA-Tencor Candela CS-20 для автоматизированной инспекции поверхности на производстве.

5

Lyncee Tec DHM T1000. Голографический микроскоп

Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.

Рубрикатор

Проекты, одобренные РОСНАНО

Все проекты РОСНАНО

Последние поступления

Поиск оборудования

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ