Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
Производитель: ТИСНУМ (Россия)
Поставщик: ФГУ ТИСНУМ
Рубрикатор: Нанотвердомеры
Ключевые слова: нанотвердомеры
Сканирующие нанотвердомеры «НаноСкан» предназначены для исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.
Производитель: Microtrac Inc.
Поставщик: Microtrac Inc
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия
Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц
ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение
Ключевые слова: светодиодные гетероструктуры, Accucolor, светодиоды
Accucolor является специализированным программным обеспечением, разработанным для работы со светодиодными гетероструктурами видимого диапазона, которое может интегрироваться в современные системы измерений фотолюминесценции и спектров отражения в белом свете RPMSigma и RPM2000.
Производитель: Keyence
Поставщик: Микросистемы, ООО
Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника
Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.
Производитель: ТИСНУМ (Россия)
Поставщик: ФГУ ТИСНУМ
Рубрикатор: Нанотвердомеры
Ключевые слова: нанотвердомеры
Сканирующие нанотвердомеры «НаноСкан-3D» предназначены для исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.
Производитель: DataPhysics Instruments GmbH (Россия)
Поставщик: Контроль качества, ЗАО
Рубрикатор: Анализ смачиваемости, Аналитические системы
Ключевые слова: краевой угол, смачиваемость, поверхностное натяжение
Прибор OCA 35 предназначен для полностью автоматизированного определения смачиваемости твёрдых поверхностей, свободной энергии поверхности твёрдых образцов и её составляющих. Производитель DataPhysics Instruments GmbH, Германия.
Производитель: ScientaOmicron (Швеция - Германия)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Приборы для микроанализа поверхности, Фазовый анализ поверхности
Ключевые слова: анализ поверхности, рфэс оже эсха, спектрометры
ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает новый комплекс для анализа поверхности методиками РФЭС (ЭСХА) с гибкой конфигурацией ESCA 2SR от компании ScientaOmicron (Швеция — Германия).
Производитель: Four Dimensions Inc. (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии
Ключевые слова: четырехзондовый метод, измерение удельного сопротивления пластин, измерение сопротивления слитков, удельное сопротивление
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает настольную систему для измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом Four Dimesions 280I.
Производитель: KLA-Tencor (США)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Анализ топографии
Ключевые слова: инспекция поверхности, полупроводниковые материалы, контроль технологического процесса, контроль обработки пластин, кремний, арсенид галия, фосфит индия, карбид кремния, сапфир, стекло, контроль технологических загрязнений
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает установку KLA-Tencor Candela CS-20 для автоматизированной инспекции поверхности на производстве.
Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности
Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология
ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.
На страницу назад
На страницу вперед
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
