Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Оборудование
Сканирующие электронные микроскопы
Сканирующие электронные микроскопы — микроскопы, в которых исследуемый образец сканируется сфокусированным электронным пучком в условиях промышленного вакуума. Сканирующий электронный микроскоп позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением.
Растровые (сканирующие) электронные микроскопы предназначены для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Базовое оснащение сканирующих электронных микроскопов позволяет изучать морфологию поверхности образца, проводить измерения размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нано-объектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до долей нанометров с увеличениями более 1 млн. крат.
Производитель: JEOL Ltd. (Япония)
Поставщик: Tokyo Boeki Ltd
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: растровый электронный микроскоп, термоэмиссионный источник
JCM-5700 — компактный растровый электронный микроскоп с термоэмиссионным источником электронов. Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов или настольных растровых электронных микроскопов, JCM-5700 имеет возможности полноценного растрового электронного микроскопа.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: сэм, катод Шоттки
MIRA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный автоэмиссионным катодом Шоттки.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ, ионный пучок
LYRA 3 FEG — удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Сфокусированный ионный пучок, как дополнение к автоэмиссионному микроскопу, предназначен для модификации поверхности.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ
InduSem — компактный и легко транспортируемый сканирующий электронный микроскоп для комплексного анализа образцов и проведения контроля качества с высоким разрешением различных материалов.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: сэм
VEGA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Обладая большой камерой и оптимизированной геометрией портов, микроскоп идеально подходит для исследования больших образцов в случаях, когда требуется значительный аналитический потенциал.
Производитель: Microtrac Inc.
Поставщик: Microtrac Inc
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия
Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц
ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ, катод Шоттки, аэтоэмиссия
MIRA 3 XM — cканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки, максимально большой камерой и расширенным моторизованным столиком.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ
VEGA 3 SB — компактный сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Для него характерны аналитическая камера образцов, моторизованный столик и современная электронная оптика. Обладая превосходным качеством изображения при сравнительно невысокой цене, микроскоп является прекрасным выбором для исследований небольших образцов в промышленности и для использования в целях обучения.
Производитель: JEOL Ltd. (Япония)
Поставщик: Tokyo Boeki Ltd
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: JSM, микроскопия
Спроектирован, чтобы удовлетворить запросам самых взыскательных исследователей, равно как и опытных инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Полностью автоматизированная система электронной оптики для использования всех возможностей инструмента оператором, даже с минимальным набором знаний.
Производитель: FEI Company
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: наноиндентор, инструментальные испытания вдавливанием, твердость, механические характеристики
PHENOM — уникальный прибор для получения изображения, вносящий новую размерность в микроскопию. PHENOM делает получение изображения высокого разрешения практическим и доступным для промышленных и исследовательских лабораторий.
На страницу назад
На страницу вперед
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
