Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Сканирующие электронные микроскопы

Сканирующие электронные микроскопы — микроскопы, в которых исследуемый образец сканируется сфокусированным электронным пучком в условиях промышленного вакуума. Сканирующий электронный микроскоп позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением.

Растровые (сканирующие) электронные микроскопы предназначены для проведения исследований микро- и нано-структуры поверхности различных образцов. Базовое оснащение сканирующих электронных микроскопов позволяет изучать морфологию поверхности образца, проводить измерения размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нано-объектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до долей нанометров с увеличениями более 1 млн. крат.

56

JCM-5700. Высокопроизводительный компактный растровый электронный микроскоп

Производитель: JEOL Ltd. (Япония)

Поставщик: Tokyo Boeki Ltd

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: растровый электронный микроскоп, термоэмиссионный источник

JCM-5700 — компактный растровый электронный микроскоп с термоэмиссионным источником электронов. Имея стоимость, сопоставимую со стоимостью хороших световых микроскопов или настольных растровых электронных микроскопов, JCM-5700 имеет возможности полноценного растрового электронного микроскопа.

55

MIRA 3 LM. Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: сэм, катод Шоттки

MIRA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения, оснащенный автоэмиссионным катодом Шоттки.

34

LYRA 3 FEG. Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки и сфокусированным ионным пучком

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ, ионный пучок

LYRA 3 FEG — удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Сфокусированный ионный пучок, как дополнение к автоэмиссионному микроскопу, предназначен для модификации поверхности.

30

InduSEM. Мобильный сканирующий электронный микроскоп для контроля качества непосредственно на производстве

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ

InduSem — компактный и легко транспортируемый сканирующий электронный микроскоп для комплексного анализа образцов и проведения контроля качества с высоким разрешением различных материалов.

24

VEGA 3 LM. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: сэм

VEGA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Обладая большой камерой и оптимизированной геометрией портов, микроскоп идеально подходит для исследования больших образцов в случаях, когда требуется значительный аналитический потенциал.

16

MIRA 3 XM. Сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ, катод Шоттки, аэтоэмиссия

MIRA 3 XM — cканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с катодом Шоттки, максимально большой камерой и расширенным моторизованным столиком.

16

VEGA 3 SB. Компактный сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ

VEGA 3 SB — компактный сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Для него характерны аналитическая камера образцов, моторизованный столик и современная электронная оптика. Обладая превосходным качеством изображения при сравнительно невысокой цене, микроскоп является прекрасным выбором для исследований небольших образцов в промышленности и для использования в целях обучения.

10

JSM-6490. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: JEOL Ltd. (Япония)

Поставщик: Tokyo Boeki Ltd

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: JSM, микроскопия

Спроектирован, чтобы удовлетворить запросам самых взыскательных исследователей, равно как и опытных инженеров, использующих сканирующий электронный микроскоп в качестве средства контроля. Полностью автоматизированная система электронной оптики для использования всех возможностей инструмента оператором, даже с минимальным набором знаний.

10

Phenom™. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: FEI Company

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: наноиндентор, инструментальные испытания вдавливанием, твердость, механические характеристики

PHENOM — уникальный прибор для получения изображения, вносящий новую размерность в микроскопию. PHENOM делает получение изображения высокого разрешения практическим и доступным для промышленных и исследовательских лабораторий.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ