Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Сканирующая зондовая микроскопия

В Сканирующей Зондовой Микроскопии (СЗМ) используется взаимодействие между твердотельным нанозондом, приближенным к объекту исследования на некоторое малое расстояние — характерную длину затухания взаимодействия «зонд-объект». Для получения изображения объекта используются прецизионные системы механического сканирования нанозондом над образцом (или образцом над зондом), причем система автоматического регулирования стабилизирует параметры наноконтакта между зондом и объектом в процессе сканирования. Пространственное разрешение сканирующих зондовых микроскопов определяется характерным размером наноконтакта между зондом и образцом.

Наиболее широкое применение метод СЗМ находит при диагностике поверхности. В условиях сверхвысокого вакуума он позволяет визуализировать структуру поверхности с атомным разрешением, наблюдать сверхрешетки, возникающие в результате перестройки поверхностных атомов, атомные и субатомные ступеньки, химические реакции на поверхности и т.п.

Англоязычный термин — Scanning Probe Microscope (SPM).

5

Nanotracker 2. Оптический пинцет

Производитель: JPK Instruments (Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Конфокальные микроскопы, Флуоресцентные микроскопы, Атомно-силовые микроскопы, Сканирующие зондовые микроскопы

Ключевые слова: оптицеский пинцет, исследование клеток, медицина, биология, нанобиотехнология

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает оптический пинцет Nanotracker 2 от JPK Instruments (Германия) для манипулирования, силовых экспериментов и отслеживания.

5

SPM Probe ScientaOmicron. Компактная зондовая система

Производитель: ScientaOmicron (Швеция - Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Атомно-силовые микроскопы, Сканирующие зондовые микроскопы, Сканирующие туннельные микроскопы

Ключевые слова: СЗМ, СТМ, АСМ, сканируюзий зондовый микроскоп, сканирующий туннельный микроскоп

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает высоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп SPM Probe от компании ScientaOmicron (Швеция — Германия).

5

Triboindenter TI 950. Сканирующий наноиндентор

Производитель: Hysitron Inc (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Анализ топографии, Нанотвердомеры, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: исследование свойств материалов наноиндентирование скретч-тест твердомер

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.

2

Cypher™. Сканирующий зондовый микроскоп

Производитель: Asylum Research Inc. (США)

Поставщик: INTERTECH Corporation. Московское представительство

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы

Ключевые слова: сканирующий зондовый микроскоп

Cypher™ является уникальным высокотехнологичным атомно-силовым и сканирующим зондовым микроскопом (АСМ), разработанным компанией Asylum Research Inc., совмещающим последние достижения и огромный накопленный опыт в зондовой микроскопии. Cypher™ стал первым в своем классе за десятилетие. Больше возможностей, большая управляемость, высокая функциональность, высокая модульность и более высокое разрешение, в сочетании с относительной простотой использования сделали Cypher™ уверенным «окном в наномир».

2

GPI 300. Cверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп

Производитель: НПФ «Сигма Скан» (Россия)

Поставщик: Сигма Скан, НПФ, ЗАО

Рубрикатор: Сканирующие туннельные микроскопы

Cверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI 300 предназначен для прецизионного (на атомном уровне) изучения процессов, происходящих на поверхности металлов и полупроводников в условиях сверхвысокого вакуума.

2

MFP-3D-BIO™ AFM. Атомно-силовой микроскоп

Производитель: Asylum Research Inc. (США)

Поставщик: INTERTECH Corporation. Московское представительство

Рубрикатор: Атомно-силовые микроскопы

Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, АСМ

MFP-3D-BIO™ AFM высокоэффективный атомно-силовой микроскоп, специально разработан компанией Asylum Research Inc. для применения в биотехнологических и медицинских областях. Атомно-силовой микроскоп MFP-3D-BIO™ является универсальным микроскопом, сочетающим атомное разрешение и детектирования сил порядка пН с интегрированным оптическим микроскопом. Предельно низкий уровень шумов и уникальная четкость и точность MFP-3D-BIO™ поднял уровень инструментария атомной микроскопии в биологических исследованиях.

2

MFP-3D™ Stand Alone AFM. Атомно-силовой микроскоп

Производитель: Asylum Research Inc. (США)

Поставщик: INTERTECH Corporation. Московское представительство

Рубрикатор: Атомно-силовые микроскопы

Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, АСМ

Атомно-силовой микроскоп MFP-3D Stand Alone (MFP-3D-SA) AFM является инструментом для исследований с нанометровом разрешением по трем координатам. С MFP-3D-SA исследователи обладают чувствительным и прецизионным инструментом с высоким уровнем шумоподавления, с полным набором программного обеспечения для реализации различных методик. Микроскоп позволяет решать задачи в области физики, химии, материаловедения, исследования полимеров, нанолитографии, биологии и количественного анализа поверхности на наноуровне.

BioScope Catalyst. Атомно-силовой микроскоп

Производитель: Bruker AXS (США)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Атомно-силовые микроскопы

Ключевые слова: сзм

В 1994 году компанией Veeco был предложен первый коммерческий АСМ, совмещенный с инвертированным оптическим микроскопом. BioScope Catalyst — последнее поколение этой удачной модели — сконструирован специально для нужд медиков и биологов.

Corvus. Сканирующий зондовый микроскоп

Производитель: ООО «СИТЭК» (Россия)

Поставщик: СИТЭК, ООО

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы

Ключевые слова: зондовый микроскоп, corvus, сзм

ООО «Ситэк» предлагает компактный исследовательский сканирующий зондовый микроскоп Corvus.

Dimension Edge. Атомно-силовой микроскоп

Производитель: Bruker AXS (США)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы

Ключевые слова: сзм

Dimension Edge - новый атомно-силовой микроскоп, разработанный на платформе Dimension Icon, лучшего на сегодняшний день АСМа для крупноформатных образцов.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ