Инструменты нанотехнологий

Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Анализ структуры

17

ZetaView (ЗетаВью). Видеомикроскоп лазерного рассеяния

Производитель: Microtrac Inc.

Поставщик: Microtrac Inc

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы, Лазерная дифракция, Лазерные системы, Аналитические системы, Анализ проводимости поверхности, Дифрактометрия

Ключевые слова: микроскоп, анализ размера частиц, наночастица, видеомикроскоп, Microtrac, анализ частиц, размер частиц

ZetaView — видеомикроскоп лазерного рассеяния для слежения за движением мельчайших частиц в электрофоретической ячейке.

13

HECUS S3-MICRO. Комбинированная система мало- и широкоуглового рассеяния рентгеновского излучения

Производитель: Hecus X-Ray Systems (Австрия)

Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»

Рубрикатор: Малоугловое рентгеновское рассеяние, Аналитические системы

Ключевые слова: рентгеновские дифрактометры

Прибор Hecus S3-MICRO разработан в соответствии с высокими современными стандартами и может применяться в производстве новейших материалов, для изучения твердых образцов, гелей, макромолекулярных растворов, полимеров и тонких пленок, а также в биомедицине, фармакологии, пищевой промышленности и при контроле качества.

9

Empyrean. Рентгеновский многоцелевой дифрактометр

Производитель: PANalytical (Нидерланды)

Поставщик: Налхо Техно, ЗАО

Рубрикатор: Рентгеновская дифрактометрия, Дифрактометрия, Малоугловое рентгеновское рассеяние

Ключевые слова: рентгеновский дифрактометр

Empyrean — уникальный по своим возможностям многоцелевой рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения, для научных исследований и аналитического контроля в промышленности. Решает все задачи рентгеновской дифрактометрии.

2

QC-RT. Система рентгеновской топографии

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: рентгеновская топография

Система рентгеновской топографии (XRDI) для определения кристаллических дефектов структурированных и сплошных пластин Jordan Valley QC-RT.

2

QC-Velox. Дифрактометр высокого разрешения

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: дифрактометр

Система Jordan Valley QC-Velox — рентгеновский дифрактометр высокого разрешения последнего поколения, предназначенный для эпитаксиальных слоев (тонких пленок), преимущественно для светодиодов, фотовольтаики, а также для производства пластин из эпитаксиальных слоев. Прибор сконструирован для задач, требующих сверхвысокой пропускной способности, массового производства.

2

QC3. Дифрактометр высокого разрешения

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: дифрактометр

QC3 — дифрактометр высокого разрешения (HRXRD) для эпитаксиальных слоев (тонких пленок). Сконструирован для задач, требующих высокой пропускной способности.

2

SAXSess mc². Система для анализа нано-структур

Производитель: Anton Paar GmbH (Австрия)

Поставщик: АВРОРА, ЗАО

Рубрикатор: Малоугловое рентгеновское рассеяние

Ключевые слова: малоугловое рентгеновское рассеяние, широкоугловое рентгеновское рассеяние, SAXS, WAXS, анализ наноструктур

SAXSess mc² — малоугловой рентгеновский дифрактометр, предназначенный для характеристики структуры в нанометровом диапазоне. Система является идеальным инструментом для анализа наноструктур, присутствующих в различных видах образцов, от жидкостей (например, коллоиды, растворы белков) до твёрдых тел (например, полимерные плёнки, нанокомпозиты). Он приносит точность в научные исследования и надёжность в промышленный анализ.

2

Пикнометр ATC с автоматической регулировкой температуры

Производитель: Thermo Scientific

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Измерение плотности веществ

Ключевые слова: наноматериалы

ООО «Промэнерголаб» предлагает Пикнометр ATC с автоматической регулировкой температуры от компании Thermo Scientific (США).

D1 Evolution. Дифрактометр для исследования тонкопленочных материалов

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: дифрактометр

Дифрактометр последнего поколения D1 Evolution компании Jordan Valley прекрасно подходит для выполнения самых разнообразных задач по исследованию тонкопленочных материалов, для контроля качества и оптимизации параметров производства.

Pascal 140. Порозиметр

Производитель: Thermo Scientific

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Ртутная порозиметрия

Ключевые слова: порозиметр, порозиметрия

ООО «Промэнерголаб» предлагает порозиметр Pascal 140 производства Thermo Scientific (США) для измерения макро- и ультрамакропористых материалов и порошков.

Рубрикатор

Проекты, одобренные РОСНАНО

Все проекты РОСНАНО

Последние поступления

Поиск оборудования

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ