Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Приборы для микроанализа поверхности

CRAIC QDI 302. Спектрофотометрическая приставка для микроскопов

Производитель: CRAIC Technologies™

Поставщик: Компания «СервисЛаб», ООО

Рубрикатор: Люминесцентная спектроскопия, Микроспектрометрия, Приборы для микроанализа поверхности, Прямые микроскопы, Спектрофотометрия

Ключевые слова: craic, микроскоп, микроспектрофотометр, микроспектрометр, спектрофотометр, спектрометр

Спектрофотометрическая приставка CRAIC QDI 302 предназначена для получения спектров микрообразцов при работе в комплексе с любым оптическим микроскопом. В зависимости от оптики и систем освещения, установленных в микроскопе, система QDI 302 способна получать спектры в диапазоне от УФ до БлИК.

CRAIC QDI QDS III. Стереомикроскоп - микроспектрофотометр

Производитель: CRAIC Technologies™

Поставщик: Компания «СервисЛаб», ООО

Рубрикатор: Люминесцентная спектроскопия, Микроспектрометрия, Приборы для микроанализа поверхности, Прямые микроскопы, Спектрофотометрия

Ключевые слова: craic, микроскоп, микроспектрофотометр, микроспектрометр, спектрофотометр, спектрометр

Стереомикроспектрофотометр QDI QDS III производства компании CRAIC Technologies разработан для анализа сравнительно крупных образцов размером порядка нескольких мм или см. Построенный на базе стереомикроскопа, прибор QDI QDS III в зависимости от комплектации может работать в режимах фотометрии на отражение и пропускание и/или флуоресценции.

Four Dimensions CV92 M. Ртутный зонд

Производитель: Four Dimensions Inc. (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение

Ключевые слова: электрохимический профилометр, профилометрия, ртутный зонд, ВАХ, ВФХ, вольт-фарадные характеристики

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает ртутный зонд Four Dimensions CV92 M от компании Four Dimensions Inc. (США).

ECVPro. Электрохимический CV-профилометр

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, профилометр

Запатентованный, принципиально новый CV-профилометр, в корне меняющий представление о возможностях электрохимического профилирования.

HL5500PC. Система измерения эффекта Холла

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: полупроводники, эффект Холла

HL5500PC представляет собой высокоэффективную систему, предназначенную для проведения измерений эффекта Холла и позволяющую определять сопротивление, концентрацию и подвижность носителей в полупроводниках.

iKhan. Универсальная система обнаружения дефектов

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ

iKhan представляет собой универсальную систему обнаружения дефектов на пластинах диаметром 300 мм, обладающую уникальной системой перемещения пластин с помощью захвата краев, которая позволяет исследовать обе стороны пластины без контакта с поверхностью.

IVS 185. Система для оверлей-измерений

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, оверлей-измерения

IVS 185 - система для измерения ошибок совмещения и определения критического размера для полупроводникового производства и MEMS. Диаметр пластин от 75 до 200 мм.

NanoView. 3D оптический профилометр

Производитель: Nanosystem (Южная Корея)

Поставщик: Интеллект, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: оптический профилометр

ООО «Интеллект» представляет точный бесконтактный оптический 3D-профилометр NanoView от компании Nanosystem (Южная Корея).

OCA 40 Micro. Оптический прибор для определения краевого угла смачивания микроструктур

Производитель: DataPhysics Instruments GmbH

Поставщик: Контроль качества, ЗАО

Рубрикатор: Анализ смачиваемости, Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: краевой угол, смачиваемость, волокна

Оптический прибор для измерения краевого угла смачивания и анализа контура капли OCA 40 micro, производства компании DataPhysics Instruments GmbH, создан специально для проведения анализа смачиваемости отдельных волокон и твёрдых образцов особо маленьких размеров.

Plu NEOX. 3D Оптический профилометр

Производитель: SENSOFAR (Испания)

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Конфокальные микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: оптический профилометр, профилометр-конфокальный микроскоп

МИНАТЕХ предлагает оптический профилометр Plu NEOX от компании SENSOFAR (Испания).

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ