Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Приборы для микроанализа поверхности

Q240 AT. Overlay-система для пластин 200 мм

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, оверлей-контроль

Наиболее эффективное решение для измерений ошибок совмещения на 200 миллиметровых пластинах.

QS1200. Настольный ИК-Фурье спектрометр

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, ИК-Фурье спектроскопия

Ключевые слова: микроанализ, спектрометр

QS-1200 — ИК-Фурье спектрометр для исследования пластин с размерами от 100 до 300 мм. Представляет собой настольную систему для измерения уровней легирования, толщин эпитаксиальных слоев и т.д.

QS2200. ИК Фурье спектрометр

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, спектрометр

QS2200 – ИК Фурье спектрометр, специально разработанный для неразрушающего контроля пластин. Прибор используется как для определения характеристик полупроводниковых материалов, так и при производстве устройств.

QS3300. ИК-Фурье спектрометр для 300-миллиметровых пластин

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, ИК-Фурье спектроскопия

Ключевые слова: микроанализ, спектрометр, ИК-Фурье

QS3300 – полностью автоматизированная система, разработанная как для неразрушающей ИК-Фурье спектроскопии полупроводниковых материалов, так и для использования при производстве приборов. Система QS3300ME разработана в соответствии со стандартом I300I и используется по всему миру уже в течение трех лет при производстве на пластинах диаметром 300мм.

SENDIRA. ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENDIRA, лазерный эллипсометр, метрология тонких пленок, измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок

ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система SENDIRA (инфракрасный спектральный эллиспометр) со спектральным диапазоном от 400 см-1 до 6000 см-1 (1666–25000 нм) и управляемым компьютером моторизованным гониометром.

SENDURO. Автоматическая широковолновая измерительная система на базе спектроскопического эллипсометра

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Приборы для микроанализа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENDURO, лазерный эллипсометр, метрология тонких пленок, измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок

Высокопроизводительная автоматическая эллипсометрическая измерительная система SENDURO® на базе УФ-ВИД спектроскопического эллипсометра с возможностью сканирования. Спектральный диапазон: 290–850 нм.

SENresearch. Спектроскопические эллипсометры

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENresearch, SE 800, SE 800E, SE 850, SE 800DUV, SE 850DUV, микроэлектроника, нанотехнологии, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, установки плазменного травления, установки плазменного осаждения, эллипсометры, плазменная очистка

SENresearch — серия новейших спектроскопических эллипсометров с диапазоном длин волн от 190 (DUV) до 2500 (IR) нм. специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом ИК диапазонах с возможностью расширений спектрального диапазона до 190 — 2500 нм.

SiPHER. Обнаружение электрически активных дефектов в кремнии

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ

Система SiPHER обнаруживает наличие дефектов, которые приводят к сокращению времени жизни носителей.

Stratus. Измеритель толщин эпитаксиальных слоев

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ

Stratus, дополнение к QS-серии, представляет собой автоматическую систему, измеряющую толщину эпитаксиального слоя с возможностью высокоскоростной установки образцов.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ