Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Анализ проводимости поверхности

5

Four Dimesions 280I. Система измерения сопротивления четырехзондовым методом

Производитель: Four Dimensions Inc. (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии

Ключевые слова: четырехзондовый метод, измерение удельного сопротивления пластин, измерение сопротивления слитков, удельное сопротивление

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает настольную систему для измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом Four Dimesions 280I.

5

Lyncee Tec DHM T1000. Голографический микроскоп

Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.

2

SPS-2600/2600-PLUS. Полуавтоматическая аналитическая зондовая станция с компьютерным управлением

Производитель: MicroXact Inc. (США)

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности

Ключевые слова: зондовая станция, аналитические системы, зондовые измерения, analytical probe stations, magnetic probe

Полуавтоматические аналитические зондовые станции с компьютерным управлением SPS-2600/SPS-2600-PLUS от компании MicroXact Inc. (США).

Four Dimensions CV92 M. Ртутный зонд

Производитель: Four Dimensions Inc. (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение

Ключевые слова: электрохимический профилометр, профилометрия, ртутный зонд, ВАХ, ВФХ, вольт-фарадные характеристики

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает ртутный зонд Four Dimensions CV92 M от компании Four Dimensions Inc. (США).

MPS-C-300/350. Зондовая станция для магнитных измерений

Производитель: MicroXact Inc. (США)

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности

Ключевые слова: зондовые станции

Зондовые станции MPS-C-300/350 для проведения магнитных измерений (Magnetic Probe Stations) от компании MicroXact Inc. (США).

SENDIRA. ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENDIRA, лазерный эллипсометр, метрология тонких пленок, измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок

ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система SENDIRA (инфракрасный спектральный эллиспометр) со спектральным диапазоном от 400 см-1 до 6000 см-1 (1666–25000 нм) и управляемым компьютером моторизованным гониометром.

SENDURO. Автоматическая широковолновая измерительная система на базе спектроскопического эллипсометра

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Приборы для микроанализа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENDURO, лазерный эллипсометр, метрология тонких пленок, измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок

Высокопроизводительная автоматическая эллипсометрическая измерительная система SENDURO® на базе УФ-ВИД спектроскопического эллипсометра с возможностью сканирования. Спектральный диапазон: 290–850 нм.

SENresearch. Спектроскопические эллипсометры

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENresearch, SE 800, SE 800E, SE 850, SE 800DUV, SE 850DUV, микроэлектроника, нанотехнологии, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, установки плазменного травления, установки плазменного осаждения, эллипсометры, плазменная очистка

SENresearch — серия новейших спектроскопических эллипсометров с диапазоном длин волн от 190 (DUV) до 2500 (IR) нм. специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом ИК диапазонах с возможностью расширений спектрального диапазона до 190 — 2500 нм.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ