Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Анализ топографии

10

Цифровой измерительный микроскоп Keyence VHX-2000

Производитель: Keyence

Поставщик: Микросистемы, ООО

Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника

Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.

5

Four Dimesions 280I. Система измерения сопротивления четырехзондовым методом

Производитель: Four Dimensions Inc. (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии

Ключевые слова: четырехзондовый метод, измерение удельного сопротивления пластин, измерение сопротивления слитков, удельное сопротивление

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает настольную систему для измерения удельного сопротивления четырехзондовым методом Four Dimesions 280I.

5

Lyncee Tec DHM T1000. Голографический микроскоп

Производитель: Lyncee Tec SA (Швейцария)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы, Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: микроскопия, профилометрия, исследование клеток, бионанотехнология

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает голографический микроскоп Lyncee Tec DHM серии T1000 для инспекции поверхности в проходящем свете.

5

Triboindenter TI 950. Сканирующий наноиндентор

Производитель: Hysitron Inc (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Анализ топографии, Нанотвердомеры, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: исследование свойств материалов наноиндентирование скретч-тест твердомер

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.

CER SE 500adv. Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Лазерные системы, Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы

Ключевые слова: оборудование, микроэлектроника, нанотехнологии, установки плазменного осаждения, эллипсометры

CER SE 500adv — уникальный комбинированный лазерный (сканирующий) эллипсометр-рефлектометр с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Для измерения нанопленок.

Four Dimensions CV92 M. Ртутный зонд

Производитель: Four Dimensions Inc. (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение

Ключевые слова: электрохимический профилометр, профилометрия, ртутный зонд, ВАХ, ВФХ, вольт-фарадные характеристики

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает ртутный зонд Four Dimensions CV92 M от компании Four Dimensions Inc. (США).

MicroXAM. Оптические профилометры (интерферометры)

Производитель: KLA-Tencor (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности, Фазовый анализ поверхности

Ключевые слова: инспекция поверхности, полупроводниковые материалы, контроль технологического процесса, контроль обработки пластин

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает Оптические профилометры (интерферометры) MicroXAM от компании KLA-Tencor  (США).

Nanofilm EP4. Визуализирующий эллипсометр

Производитель: Accurion (Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Спектральные эллипсометры

Ключевые слова: эллипсометр, эллипсометрия, микроскопия

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает визуализирующий эллипсометр Nanofilm EP4 от компании Accurion (Германия).

NanoView. 3D оптический профилометр

Производитель: Nanosystem (Южная Корея)

Поставщик: Интеллект, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: оптический профилометр

ООО «Интеллект» представляет точный бесконтактный оптический 3D-профилометр NanoView от компании Nanosystem (Южная Корея).

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ