Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Поиск по названию

Оборудование на букву «H»

13

HECUS S3-MICRO. Комбинированная система мало- и широкоуглового рассеяния рентгеновского излучения

Производитель: Hecus X-Ray Systems (Австрия)

Поставщик: ЗАО «Инструменты Нанотехнологии»

Рубрикатор: Малоугловое рентгеновское рассеяние, Аналитические системы

Ключевые слова: рентгеновские дифрактометры

Прибор Hecus S3-MICRO разработан в соответствии с высокими современными стандартами и может применяться в производстве новейших материалов, для изучения твердых образцов, гелей, макромолекулярных растворов, полимеров и тонких пленок, а также в биомедицине, фармакологии, пищевой промышленности и при контроле качества.

7

Horiba LA-960 лазерный анализатор размеров частиц

Производитель: HORIBA (Япония)

Поставщик: РВС, ООО

Рубрикатор: Лазерная дифракция

Ключевые слова: размер частиц, анализ наночастиц, анализатор размеров частиц

ООО «РВС» предлагает лазерный анализатор Horiba LA-960 от компании HORIBA Jobin Yvon S.A.S. (Япония).

5

HAXPES Lab. Фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном

Производитель: ScientaOmicron (Швеция-Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Ключевые слова: HAXPES, РФЭС, XPS, ЭСХА

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает фотоэлектронный спектрометр с жестким рентгеном HAXPES Lab от компании ScientaOmicron (Швеция-Германия).

2

HORIBA SZ-100Z. Лазерный анализатор

Производитель: HORIBA (Япония)

Поставщик: РВС, ООО

Рубрикатор: Динамическое рассеяние света

Ключевые слова: размер наночастиц, анализ размеров частиц, лазерные анализаторы

ООО «РВС» предлагает лазерный анализатор HORIBA SZ-100Z от компании HORIBA Jobin Yvon S.A.S. (Япония) для измерения размера частиц в диапазоне от 0,3 нм до 8 мкм, дзета-потенциала и молекулярного веса.

Helios G4 HX FEI. Электронно-ионный микроскоп

Производитель: FEI Company

Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО

Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы, Сканирующие гелиево-ионные микроскопы, Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: Helios, G4, HX, FEI, электронный, ионный, микроскоп

ООО «Серния» представляет электронно-ионный микроскоп Helios G4 HX от компании FEI Company для нужд лабораторий анализа отказов в микроэлектронике.

Hitachi S-3400N. Сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссией

Производитель: Hitachi (Япония)

Поставщик: Interlab

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: микроскопия, hitachi

InterLab Inc. предлагает сканирующий электронный микроскоп Hitachi S-3400N от компании Hitachi (Япония).

Hitachi SU1510. Малогабаритный сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Hitachi (Япония)

Поставщик: Interlab

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: микроскопия, hitachi

InterLab Inc. предлагает малогабаритный сканирующий электронный микроскоп Hitachi SU1510 от компании Hitachi (Япония).

HL5500PC. Система измерения эффекта Холла

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: полупроводники, эффект Холла

HL5500PC представляет собой высокоэффективную систему, предназначенную для проведения измерений эффекта Холла и позволяющую определять сопротивление, концентрацию и подвижность носителей в полупроводниках.

HPT100 Henniker. Cистема плазменной обработки поверхности в вакууме

Производитель: Henniker Plasma (Великобритания)

Поставщик: Серния Инжиниринг, ООО

Рубрикатор: Плазмохимическое травление

Ключевые слова: плазменная обработка поверхности, обработка поверхности в вакууме, HPT100, Henniker

ООО «Серния» представляет систему плазменной обработки поверхности в вакууме HPT100 Henniker от компании Henniker Plasma (Великобритания).

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ