Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Поиск по названию

Оборудование на букву «Q»

18

Qprep500. Система молекулярно-лучевой эпитаксии

Производитель: Mantis Deposition (United Kingdom)

Поставщик: Экситон Аналитик, ООО

Рубрикатор: Молекулярно-лучевая эпитаксия, Научно-исследовательские комплексы, Синтез наноматериалов, Ионно-лучевая обработка, Магнетронное напыление

Ключевые слова: Молекулярно-лучевая эпитаксия

ООО «Экситон Аналитик» предлагает систему молекулярно-лучевой эпитаксии Qprep500 для выращивания тонких пленок из металлов.

2

QC-RT. Система рентгеновской топографии

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: рентгеновская топография

Система рентгеновской топографии (XRDI) для определения кристаллических дефектов структурированных и сплошных пластин Jordan Valley QC-RT.

2

QC-Velox. Дифрактометр высокого разрешения

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: дифрактометр

Система Jordan Valley QC-Velox — рентгеновский дифрактометр высокого разрешения последнего поколения, предназначенный для эпитаксиальных слоев (тонких пленок), преимущественно для светодиодов, фотовольтаики, а также для производства пластин из эпитаксиальных слоев. Прибор сконструирован для задач, требующих сверхвысокой пропускной способности, массового производства.

2

QC3. Дифрактометр высокого разрешения

Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.

Поставщик: Technoinfo Limited

Рубрикатор: Дифрактометрия

Ключевые слова: дифрактометр

QC3 — дифрактометр высокого разрешения (HRXRD) для эпитаксиальных слоев (тонких пленок). Сконструирован для задач, требующих высокой пропускной способности.

2

QSG750-II. Оптический эмиссионный спектрометр с применением GISS технологии

Производитель: OBLF GmbH (Германия)

Поставщик: Налхо Техно, ЗАО

Рубрикатор: Эмиссионные спектрометры

Ключевые слова: оптический эмиссионный спектрометр, спектрометр

ЗАО «Налхо Техно» предлагает универсальный многоматричный оптико-эмиссионный спектрометр OBLF QSG750-II с применением технологии GISS (система обработки единичных импульсов) производства OBLF GmbH.

2

QUV/se. Везерометр с флуоресцентными лампами

Производитель: Q-Lab Corporation

Поставщик: Q-Lab Corporation. Представительство в России

Рубрикатор: Везерометры QUV с флуоресцентными лампами

Ключевые слова: везерометры

Самая популярная в мире модель везерометров QUV, оснащенная уникальной системой контроля мощности излучения ламп SolarEye.

Q-SUN Xe-3. Везерометр

Производитель: Q-Lab Corporation

Поставщик: Q-Lab Corporation. Представительство в России

Рубрикатор: Везерометры Q-SUN с ксеноновыми лампами

Ключевые слова: везерометры

Везерометры Q-SUN Xe-3 представляет собой многофункциональные, полноразмерные камеры солнечной радиации (камеры искусственной погоды, ксенотесты) для испытаний материалов, покрытий и готовых изделий на светостойкость и атмосферостойкость.

Q240 AT. Overlay-система для пластин 200 мм

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, оверлей-контроль

Наиболее эффективное решение для измерений ошибок совмещения на 200 миллиметровых пластинах.

QS1200. Настольный ИК-Фурье спектрометр

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, ИК-Фурье спектроскопия

Ключевые слова: микроанализ, спектрометр

QS-1200 — ИК-Фурье спектрометр для исследования пластин с размерами от 100 до 300 мм. Представляет собой настольную систему для измерения уровней легирования, толщин эпитаксиальных слоев и т.д.

QS2200. ИК Фурье спектрометр

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, спектрометр

QS2200 – ИК Фурье спектрометр, специально разработанный для неразрушающего контроля пластин. Прибор используется как для определения характеристик полупроводниковых материалов, так и при производстве устройств.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ