Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Поиск по названию
Производитель: Mantis Deposition (United Kingdom)
Поставщик: Экситон Аналитик, ООО
Рубрикатор: Молекулярно-лучевая эпитаксия, Научно-исследовательские комплексы, Синтез наноматериалов, Ионно-лучевая обработка, Магнетронное напыление
Ключевые слова: Молекулярно-лучевая эпитаксия
ООО «Экситон Аналитик» предлагает систему молекулярно-лучевой эпитаксии Qprep500 для выращивания тонких пленок из металлов.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: рентгеновская топография
Система рентгеновской топографии (XRDI) для определения кристаллических дефектов структурированных и сплошных пластин Jordan Valley QC-RT.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: дифрактометр
Система Jordan Valley QC-Velox — рентгеновский дифрактометр высокого разрешения последнего поколения, предназначенный для эпитаксиальных слоев (тонких пленок), преимущественно для светодиодов, фотовольтаики, а также для производства пластин из эпитаксиальных слоев. Прибор сконструирован для задач, требующих сверхвысокой пропускной способности, массового производства.
Производитель: Jordan Valley Semiconductors Ltd.
Поставщик: Technoinfo Limited
Рубрикатор: Дифрактометрия
Ключевые слова: дифрактометр
QC3 — дифрактометр высокого разрешения (HRXRD) для эпитаксиальных слоев (тонких пленок). Сконструирован для задач, требующих высокой пропускной способности.
Производитель: OBLF GmbH (Германия)
Поставщик: Налхо Техно, ЗАО
Рубрикатор: Эмиссионные спектрометры
Ключевые слова: оптический эмиссионный спектрометр, спектрометр
ЗАО «Налхо Техно» предлагает универсальный многоматричный оптико-эмиссионный спектрометр OBLF QSG750-II с применением технологии GISS (система обработки единичных импульсов) производства OBLF GmbH.
Производитель: Q-Lab Corporation
Поставщик: Q-Lab Corporation. Представительство в России
Рубрикатор: Везерометры QUV с флуоресцентными лампами
Ключевые слова: везерометры
Самая популярная в мире модель везерометров QUV, оснащенная уникальной системой контроля мощности излучения ламп SolarEye.
Производитель: Q-Lab Corporation
Поставщик: Q-Lab Corporation. Представительство в России
Рубрикатор: Везерометры Q-SUN с ксеноновыми лампами
Ключевые слова: везерометры
Везерометры Q-SUN Xe-3 представляет собой многофункциональные, полноразмерные камеры солнечной радиации (камеры искусственной погоды, ксенотесты) для испытаний материалов, покрытий и готовых изделий на светостойкость и атмосферостойкость.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ, оверлей-контроль
Наиболее эффективное решение для измерений ошибок совмещения на 200 миллиметровых пластинах.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, ИК-Фурье спектроскопия
Ключевые слова: микроанализ, спектрометр
QS-1200 — ИК-Фурье спектрометр для исследования пластин с размерами от 100 до 300 мм. Представляет собой настольную систему для измерения уровней легирования, толщин эпитаксиальных слоев и т.д.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ, спектрометр
QS2200 – ИК Фурье спектрометр, специально разработанный для неразрушающего контроля пластин. Прибор используется как для определения характеристик полупроводниковых материалов, так и при производстве устройств.
На страницу назад
На страницу вперед
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
