Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Поиск по названию
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: сэм
VEGA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Обладая большой камерой и оптимизированной геометрией портов, микроскоп идеально подходит для исследования больших образцов в случаях, когда требуется значительный аналитический потенциал.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ТЕСКАН, ООО
Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ
VEGA 3 SB — компактный сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Для него характерны аналитическая камера образцов, моторизованный столик и современная электронная оптика. Обладая превосходным качеством изображения при сравнительно невысокой цене, микроскоп является прекрасным выбором для исследований небольших образцов в промышленности и для использования в целях обучения.
Производитель: Cordouan Technologies (Франция)
Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО
Рубрикатор: Динамическое рассеяние света, Лазерная дифракция, Метод индуцированной решетки
Ключевые слова: анализатор частиц, анализатор размеров частиц
ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает анализатор размеров частиц Vasco от компании Cordouan Technologies (Франция) — лучшее инновационное решение для анализа размеров частиц, адаптированное для ультра-разреженного образца (0.0001% по весу) или для сверх-концентрированного образца (до 40% по весу).
Производитель: OBLF GmbH (Германия)
Поставщик: Налхо Техно, ЗАО
Рубрикатор: Эмиссионные спектрометры
Ключевые слова: Оптический эмиссионный спектрометр
OBLF VeOS — вакуумный искровой оптико-эмиссионный спектрометр на основе самых современных линейных (CCD) сенсоров, специально разработанных для эмиссионной спектроскопии. Аналитические способности прибора обеспечивают точный анализ коротковолновых элементов, таких как азот или низкий углерод.
Производитель: FEI Company
Поставщик: Нанопромимпорт, ЗАО
Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы
ЗАО «Нанопромимпорт» предлагает систему фокусированного пучка ионов V400CE™ FEI Company.
Производитель: FEI Company
Поставщик: Нанопромимпорт, ЗАО
Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы
ЗАО «Нанопромимпорт» предлагает системы фокусированного пучка ионов V600™ и V600CE™ FEI Company.
Производитель: Tescan, a.s.
Поставщик: ЗАО «Экситон Аналитик»
Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы
Ключевые слова: СЭМ, ионный пучок
Сканирующий электронный микроскоп со сфокусированным ионным пучком, максимально большой камерой, высоким и переменным вакуумом в камере. VELA FIBxSEM — это удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Возможность модификации поверхности сфокусированным ионным пучком расширяет границы применения сканирующего электронного микроскопа.
Производитель: ELAS (Литва)
Поставщик: Промэнерголаб, ООО
Рубрикатор: Лазерные системы
Ключевые слова: лазерная микрообработка, лазерные системы
ООО «Промэнерголаб» предлагает промышленная рабочую станцию Ventu FNP1064 производства ELAS (Литва).
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ, VerteX, фотолюминесцентные измерения
Фотолюминесцентные измерения с контролем плотности мощности возбуждающего излучения.
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
