Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Поиск по названию

Оборудование на букву «V»

24

VEGA 3 LM. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: сэм

VEGA 3 LM — сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Обладая большой камерой и оптимизированной геометрией портов, микроскоп идеально подходит для исследования больших образцов в случаях, когда требуется значительный аналитический потенциал.

16

VEGA 3 SB. Компактный сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ТЕСКАН, ООО

Рубрикатор: Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ

VEGA 3 SB — компактный сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным вольфрамовым катодом. Для него характерны аналитическая камера образцов, моторизованный столик и современная электронная оптика. Обладая превосходным качеством изображения при сравнительно невысокой цене, микроскоп является прекрасным выбором для исследований небольших образцов в промышленности и для использования в целях обучения.

5

Vasco. Анализатор размеров частиц

Производитель: Cordouan Technologies (Франция)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Динамическое рассеяние света, Лазерная дифракция, Метод индуцированной решетки

Ключевые слова: анализатор частиц, анализатор размеров частиц

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает анализатор размеров частиц Vasco от компании Cordouan Technologies (Франция) — лучшее инновационное решение для анализа размеров частиц, адаптированное для ультра-разреженного образца (0.0001% по весу) или для сверх-концентрированного образца (до 40% по весу).

2

VeOS. Оптический эмиссионный спектрометр на CCD сенсорах

Производитель: OBLF GmbH (Германия)

Поставщик: Налхо Техно, ЗАО

Рубрикатор: Эмиссионные спектрометры

Ключевые слова: Оптический эмиссионный спектрометр

OBLF VeOS — вакуумный искровой оптико-эмиссионный спектрометр на основе самых современных линейных (CCD) сенсоров, специально разработанных для эмиссионной спектроскопии. Аналитические способности прибора обеспечивают точный анализ коротковолновых элементов, таких как азот или низкий углерод.

V400CE™ FEI Company. Система фокусированного пучка ионов

Производитель: FEI Company

Поставщик: Нанопромимпорт, ЗАО

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

ЗАО «Нанопромимпорт» предлагает систему фокусированного пучка ионов V400CE™ FEI Company.

V600™ и V600CE™ FEI Company. Системы фокусированного пучка ионов

Производитель: FEI Company

Поставщик: Нанопромимпорт, ЗАО

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

ЗАО «Нанопромимпорт» предлагает системы фокусированного пучка ионов V600™ и V600CE™ FEI Company.

VELA 3 FIBxSEM. Сканирующий электронный микроскоп, оснащенный колонной со сфокусированным ионным пучком

Производитель: Tescan, a.s.

Поставщик: ЗАО «Экситон Аналитик»

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

Ключевые слова: СЭМ, ионный пучок

Сканирующий электронный микроскоп со сфокусированным ионным пучком, максимально большой камерой, высоким и переменным вакуумом в камере. VELA FIBxSEM — это удобное сочетание электронной и ионной колонн на одной камере. Возможность модификации поверхности сфокусированным ионным пучком расширяет границы применения сканирующего электронного микроскопа.

Ventu FNP1064. Промышленная рабочая станция

Производитель: ELAS (Литва)

Поставщик: Промэнерголаб, ООО

Рубрикатор: Лазерные системы

Ключевые слова: лазерная микрообработка, лазерные системы

ООО «Промэнерголаб» предлагает промышленная рабочую станцию Ventu FNP1064 производства ELAS (Литва).

VerteX. Система фотолюминесцентных измерений

Производитель: Nanometrics (США)

Поставщик: ООО «Сигм плюс»

Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: микроанализ, VerteX, фотолюминесцентные измерения

Фотолюминесцентные измерения с контролем плотности мощности возбуждающего излучения.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ