Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Поиск по названию

Оборудование на букву «Z»

54

Zeiss Libra 200FE. Просвечивающий электронный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Просвечивающие электронные микроскопы

Ключевые слова: просвечивающий электронный микроскоп

Автоэмиссионный просвечивающий электронный микроскоп с энергетическим ОМЕГА-фильтром LIBRA® 200FE предназначен для проведения работ и научных исследований в естественных, биологических науках; материаловедении и многих др.

16

Zetasizer Nano. Анализ размера наночастиц и молекул, дзета-потенциала и молекулярной массы

Производитель: Malvern Instruments Ltd (Великобритания)

Поставщик: КД Системы и Оборудование, ООО

Рубрикатор: Динамическое рассеяние света

Ключевые слова: размер частиц, дзета-потенциал, молекулярная масса, динамическое рассеяние света

В серии лазерных анализаторов Zetasizer компании Malvern Instruments используются технологии рассеяния лазерного света для измерения размера частиц (гидродинамического радиуса / диаметра), дзета-потенциала и молекулярной массы белков и наночастиц. Высокая чувствительность и универсальность систем обусловлены использованием ряда инновационных технологий.

12

Zeiss Orion. Сканирующий гелиево-ионный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Сканирующие гелиево-ионные микроскопы

Ключевые слова: гелиево-ионный микроскоп

Гелиево-ионный микроскоп Carl Zeiss Orion - абсолютно новый прорыв в микроскопии. Благодаря уникальным физическим параметрам гелиево-ионного пучка, ORION способен обеспечивать такими характеристиками: ангстремное разрешение, глубина резкости, материальный контраст, какие до сих пор невозможно было получить при помощи традиционных инструментов микроскопии.

12

Zyvex S100. Наноманипулятор с точностью позиционирования 5 nm

Производитель: Zyvex Instruments (США)

Поставщик: ЗАО «ЭлекТрейд-М»

Рубрикатор: Позиционеры, манипуляторы, Научно-исследовательские комплексы, Аналитические системы

Ключевые слова: наноманипулятор, нанотехнологические комплексы

Зондовая станция Zyvex S100 представляет собой интегрированную систему позиционирования для проведения измерений совместно со сканирующими электронными микроскопами (SEM) или ионно-лучевыми приборами (FIB) при исследованиях и разработках в микро- и нанообластях.

10

Zeiss Neon® 60. Аналитический автоэмиссионный электронный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Аналитические системы, Ионно-лучевая обработка, Просвечивающие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронный микроскоп, ПЭМ

Аналитический автоэмиссионный электронно-ионный (двухлучевой) растровый электронный микроскоп для исследования наноструктур, нанопрепарирования, электронно-лучевой и ионно-лучевой литографии, инспекционных целей и подготовки сверхтонких срезов для исследований методами ПЭМ.

7

Zeta RS NETZSCH. Мельница для наноизмельчения

Производитель: NETZSCH (Германия)

Поставщик: NETZSCH

Рубрикатор: Синтез наноматериалов

Ключевые слова: мельница, измельчение, диспергирование, дезагрегация, дезагломерация

NETZSCH предлагает мельницу для наноизмельчения Zeta RS производства NETZSCH.

2

Zeiss AxioObserver. Инвертированный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы

Ключевые слова: микроскоп отраженного света

Исследовательский микроскоп отраженного света. Модификации: A1m/D1m/Z1m.

2

Zeiss NVision 40. Сканирующий электронный микроскоп серии CrossBeam

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Аналитические системы, Сканирующие электронные микроскопы

Ключевые слова: электронный микроскоп, СЭМ

NVision 40 — новая и мощная комбинация ионной (FIB) и GEMINI колонн.

2

Zeiss Supra 40/40VP. Сканирующий электронный микроскоп

Производитель: Carl Zeiss Group (Германия)

Поставщик: ОПТЭК (ZEISS Group)

Рубрикатор: Инвертированные микроскопы

Ключевые слова: сканирующий электронный микроскоп

Многоцелевой высокопроизводительный автоэмиссионный растровый электронный микроскоп.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ