Инструменты нанотехнологий
Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности
Поиск по производителю
Nanometrics является мировым лидером в разработке, производстве и продаже специализированного контрольно-измерительного оборудования, используемого крупнейшими производителями полупроводниковых приборов.
Nanometrics выпускает системы, позволяющие измерять различные свойства тонких пленок, критические размеры, ошибки совмещения слоев (overlay) на всех этапах производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Оборудование Nanometrics повышает производительность и снижает стоимость производства.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение
Ключевые слова: светодиодные гетероструктуры, Accucolor, светодиоды
Accucolor является специализированным программным обеспечением, разработанным для работы со светодиодными гетероструктурами видимого диапазона, которое может интегрироваться в современные системы измерений фотолюминесценции и спектров отражения в белом свете RPMSigma и RPM2000.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, Люминесцентная спектроскопия
Ключевые слова: микроанализ, фотолюминесцентные измерения
RPM 2000 — настольная система измерения распределения фотолюминесцентного сигнала по площади исследуемого образца.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ, overlay-контроль
Caliper élan – последняя и наиболее совершенная полупроводниковая overlay-система производства фирмы Nanometrics. Elan основан на оригинальной overlay-системе Caliper и представляет собой наиболее эффективное и экономичное решение для используемого в настоящее время технологического процесса 90 нм, а в дальнейшем для технологии 65 нм и менее.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ, профилометр
Запатентованный, принципиально новый CV-профилометр, в корне меняющий представление о возможностях электрохимического профилирования.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: полупроводники, эффект Холла
HL5500PC представляет собой высокоэффективную систему, предназначенную для проведения измерений эффекта Холла и позволяющую определять сопротивление, концентрацию и подвижность носителей в полупроводниках.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ
iKhan представляет собой универсальную систему обнаружения дефектов на пластинах диаметром 300 мм, обладающую уникальной системой перемещения пластин с помощью захвата краев, которая позволяет исследовать обе стороны пластины без контакта с поверхностью.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ, оверлей-измерения
IVS 185 - система для измерения ошибок совмещения и определения критического размера для полупроводникового производства и MEMS. Диаметр пластин от 75 до 200 мм.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ, оверлей-контроль
Наиболее эффективное решение для измерений ошибок совмещения на 200 миллиметровых пластинах.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности, ИК-Фурье спектроскопия
Ключевые слова: микроанализ, спектрометр
QS-1200 — ИК-Фурье спектрометр для исследования пластин с размерами от 100 до 300 мм. Представляет собой настольную систему для измерения уровней легирования, толщин эпитаксиальных слоев и т.д.
Производитель: Nanometrics (США)
Поставщик: ООО «Сигм плюс»
Рубрикатор: Приборы для микроанализа поверхности
Ключевые слова: микроанализ, спектрометр
QS2200 – ИК Фурье спектрометр, специально разработанный для неразрушающего контроля пластин. Прибор используется как для определения характеристик полупроводниковых материалов, так и при производстве устройств.
На страницу назад
На страницу вперед
© www.rusnanonet.ru 2008-2015. Все права защищены.
Перепечатка материалов сайта разрешается только с активной ссылкой на www.rusnanonet.ru
Нанотехнологическое оборудование. Портал RusNanoNet.ru
