Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Приборы для микроанализа поверхности

5

NanoSAM. Оже-спектрометр

Производитель: ScientaOmicron (Швеция - Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: спектрометры, оже-спектроскопия

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает лабораторию NanoSAM для работы на сложных материалах от компании ScientaOmicron (Швеция — Германия).

5

ESCA 2SR. Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр

Производитель: ScientaOmicron (Швеция - Германия)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Оже-электронная спектроскопия, Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Приборы для микроанализа поверхности, Фазовый анализ поверхности

Ключевые слова: анализ поверхности, рфэс оже эсха, спектрометры

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает новый комплекс для анализа поверхности методиками РФЭС (ЭСХА) с гибкой конфигурацией ESCA 2SR от компании ScientaOmicron (Швеция — Германия).

NanoView. 3D оптический профилометр

Производитель: Nanosystem (Южная Корея)

Поставщик: Интеллект, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: оптический профилометр

ООО «Интеллект» представляет точный бесконтактный оптический 3D-профилометр NanoView от компании Nanosystem (Южная Корея).

Four Dimensions CV92 M. Ртутный зонд

Производитель: Four Dimensions Inc. (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение

Ключевые слова: электрохимический профилометр, профилометрия, ртутный зонд, ВАХ, ВФХ, вольт-фарадные характеристики

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает ртутный зонд Four Dimensions CV92 M от компании Four Dimensions Inc. (США).

Plu NEOX. 3D Оптический профилометр

Производитель: SENSOFAR (Испания)

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Конфокальные микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: оптический профилометр, профилометр-конфокальный микроскоп

МИНАТЕХ предлагает оптический профилометр Plu NEOX от компании SENSOFAR (Испания).

10

Цифровой измерительный микроскоп Keyence VHX-2000

Производитель: Keyence

Поставщик: Микросистемы, ООО

Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника

Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.

OCA 40 Micro. Оптический прибор для определения краевого угла смачивания микроструктур

Производитель: DataPhysics Instruments GmbH

Поставщик: Контроль качества, ЗАО

Рубрикатор: Анализ смачиваемости, Приборы для микроанализа поверхности

Ключевые слова: краевой угол, смачиваемость, волокна

Оптический прибор для измерения краевого угла смачивания и анализа контура капли OCA 40 micro, производства компании DataPhysics Instruments GmbH, создан специально для проведения анализа смачиваемости отдельных волокон и твёрдых образцов особо маленьких размеров.

SENDIRA. ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENDIRA, лазерный эллипсометр, метрология тонких пленок, измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок

ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система SENDIRA (инфракрасный спектральный эллиспометр) со спектральным диапазоном от 400 см-1 до 6000 см-1 (1666–25000 нм) и управляемым компьютером моторизованным гониометром.

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ