Сортировать: по рейтингу | по названию | по дате поступления | по популярности

Оборудование

Анализ топографии

ФемтоСкан. Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп с полным управлением через Интернет

Производитель: ООО НПП «Центр перспективных технологий» (Россия)

Поставщик: ООО НПП «Центр перспективных технологий», Центр перспективных технологий, ЗАО

Рубрикатор: Атомно-силовые микроскопы, Сканирующие зондовые микроскопы, Сканирующие туннельные микроскопы, Анализ рельефа поверхности, Анализ топографии

Ключевые слова: ФемтоСкан, зондовая микроскопия

«ФемтоСкан» является сканирующим зондовым микроскопом, в котором впервые в мире реализована технология дистанционного управления прибором и анализа данных через сеть Интернет. Это позволяет осуществлять полномасштабные измерения с любого компьютера, подключенного к локальной сети или сети Интернет, при этом неограниченное количество санкционированных сетевых пользователей могут иметь доступ к данным эксперимента в реальном масштабе времени и осуществлять самостоятельные анализ, обработку и построение трехмерных изображений.

10

Цифровой измерительный микроскоп Keyence VHX-2000

Производитель: Keyence

Поставщик: Микросистемы, ООО

Рубрикатор: Прямые микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Программное обеспечение, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: Keyence, цифровой микроскоп, VHX-1000, микроэлектроника

Японский производитель уникальных цифровых микроскопов выпустил в свет новый оптический микроскоп — VHX-2000, который является логическим продолжением серии микроскопов VHX. Сохранив все преимущества предшественника VHX-1000, VHX-2000 получил новые полезные возможности такие, например, как возможность проведения измерений для анализа частиц, возможность измерений «в один клик» и другие полезные опции.

5

Triboindenter TI 950. Сканирующий наноиндентор

Производитель: Hysitron Inc (США)

Поставщик: Группа Ай-Эм-Си, ООО

Рубрикатор: Сканирующие зондовые микроскопы, Анализ топографии, Нанотвердомеры, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: исследование свойств материалов наноиндентирование скретч-тест твердомер

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.

SENDIRA. ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENDIRA, лазерный эллипсометр, метрология тонких пленок, измерение толщины и оптических характеристик тонких пленок

ИК-Фурье спектроскопическая эллипсометрическая система SENDIRA (инфракрасный спектральный эллиспометр) со спектральным диапазоном от 400 см-1 до 6000 см-1 (1666–25000 нм) и управляемым компьютером моторизованным гониометром.

CER SE 500adv. Комбинированный лазерный эллипсометр-рефлектометр

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Лазерные системы, Аналитические системы, Научно-исследовательские комплексы

Ключевые слова: оборудование, микроэлектроника, нанотехнологии, установки плазменного осаждения, эллипсометры

CER SE 500adv — уникальный комбинированный лазерный (сканирующий) эллипсометр-рефлектометр с возможностью проведения измерений пленок под различными углами разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Для измерения нанопленок.

Plu NEOX. 3D Оптический профилометр

Производитель: SENSOFAR (Испания)

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Конфокальные микроскопы, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: оптический профилометр, профилометр-конфокальный микроскоп

МИНАТЕХ предлагает оптический профилометр Plu NEOX от компании SENSOFAR (Испания).

SE 400adv. Лазерный эллипсометр

Производитель: SENTECH Instruments GmbH (Германия)

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы, Научно-исследовательские комплексы

Ключевые слова: микроэлектроника, нанотехнологии, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, установки плазменного травления, установки плазменного осаждения, эллипсометры, плазменная очистка

SE 400adv — новейший лазерный (сканирующий) эллипсометр с возможностью проведения измерений пленок под различными углами. Прибор разработан для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей. Для измерения нанопленок.

SENresearch. Спектроскопические эллипсометры

Производитель: SENTECH Instruments GmbH

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Анализ проводимости поверхности, Анализ топографии, Приборы для микроанализа поверхности, Анализ рельефа поверхности, Лазерные системы

Ключевые слова: SENresearch, SE 800, SE 800E, SE 850, SE 800DUV, SE 850DUV, микроэлектроника, нанотехнологии, полупроводники, аналитическое оборудование, спектрометры, установки плазменного травления, установки плазменного осаждения, эллипсометры, плазменная очистка

SENresearch — серия новейших спектроскопических эллипсометров с диапазоном длин волн от 190 (DUV) до 2500 (IR) нм. специально разработанных для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглащения) на различных типах поверхностей в УФ и видимом ИК диапазонах с возможностью расширений спектрального диапазона до 190 — 2500 нм.

Plu APEX. Асферический оптический профилометр

Производитель: SENSOFAR (Испания)

Поставщик: МИНАТЕХ, ООО

Рубрикатор: Конфокальные микроскопы, Прямые микроскопы, Анализ топографии, Анализ рельефа поверхности

Ключевые слова: асферический оптический профилометр, измерения асферических поверхностей

МИНАТЕХ предлагает асферический оптический профилометр Plu APEX от компании SENSOFAR (Испания).

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ