Инструменты нанотехнологий

Nanofilm EP4. Визуализирующий эллипсометр

ООО «Группа Ай-Эм-Си» предлагает визуализирующий эллипсометр Nanofilm EP4 от компании Accurion (Германия).

Как комбинация методов нуль-эллипсометрии и микроскопии, спектральная визуализирующая эллипсометрия существенно расширяет возможности классического метода. Кроме возможности определения толщины и оптических свойств пленок и слоев, метод позволяет получить качественные изображения поверхностей с наилучшим латеральным разрешением среди подобных приборов — 1 мкм.

Визуализирующий эллипсометр Accurion Nanofilm EP4 обладает набором уникальных особенностей в сочетании с in-situ визуализацией в реальном времени. Это позволяет наблюдать структуру образца на микроскопическом уровне и измерять толщину покрытий, коэффициенты преломления и поглощения с картированием выбранной поверхности образца по этим параметрам.

Возможно комбинирование прибора с другими методами, такими, как: атомно-силовая микроскопия (АСМ), кварцевые микровесы, спектроскопия комбинационного рассеяния, рефлектометрия и другими. Это дает возможность получения всей необходимой информации о составе и структуре образца.

Отличительные особенности:

  • Прямая in-situ визуализация образца с наилучшим латеральным разрешением по сравнению с коммерчески доступными аналогами.
  • Исследования в диапазоне от 250 нм до 1700 нм с возможностью получения изображений на любой из длин волн в этом диапазоне.
  • Большой набор аксессуаров для различных применений (ячейки для исследований границ раздела твердое — жидкость, жидкость — жидкость, контроля температуры, электрохимическая ячейка и многое другое).
  • Запатентованная концепция «region of interest (ROI)» дает возможность параллельного исследования нескольких областей внутри выбранного поля зрения.
  • Уникальная разработка среди объективов Nanochromat_2 для высокоразрешающей контрастной визуализации в диапазоне ультрафиолет (УФ) — ближний инфракрасный (БИК) свет с минимизированными искажающими эффетами.
  • Интерактивное и легкое в использовании программное обеспечение для контроля и моделирования «EP4Control», полностью управляющее работой прибора и предлагающее широкий спектр возможностей обработки данных.

Области применения эллипсометров Accurion EP4:

  • Изучение динамических структур, таких как движущиеся и образующиеся монослои на водной поверхности, растущие и адсорбированные слои, взаимодействие протеинов и многое другое.
  • Изящное решение проблемы фоновых отражений при исследовании образцов на тонких прозрачных подложках beam cutter.

Информация предоставлена Группа Ай-Эм-Си, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ