Инструменты нанотехнологий

СОЛВЕР НЕКСТ. Сканирующий зондовый микроскоп платформы СОЛВЕР

Новейшая разработка НТ-МДТ – сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) последнего поколения Солверов. Уникальность этой системы заключается в том, что функциональность и высочайшее качество получаемых изображений сочетается с предельной простотой в использовании, которая достигается за счет полной автоматизации настроек и управления.

СОЛВЕР НЕКСТ – это инновационная и самая свежая разработка НТ-МДТ, открывающая новую линию Сканирующих Зондовых Микроскопов широкого применения. Полная автоматизация настроек и режимов измерений, моторизованное позиционирование образца с привязкой к системе видеонаблюдения, интеллектуальный софт, эргономичный дизайн и доступная цена — все это делает зондовый микроскоп доступным и простым даже для новичка.

Опытного пользователя СОЛВЕР НЕКСТ приятно удивит не только простотой настроек и удобством, но и большим потенциалом возможностей и качеством изображений. Встроенные датчики обратной связи обеспечивают высокую точность позиционирования зонда и исключают возможные искажения изображения. Таким образом, технология использования встроенных датчиков компенсирует неизбежное несовершенство пьезокерамики — нелинейность, крип и гистерезис.

Две стационарные, автоматически устанавливаемые АСМ и СТМ головки, а также две дополнительные — для работы в жидкости и наносклерометрии, обеспечивают большую свободу в выборе методик и условий измерений. Уникальная конструкция прибора позволяет при смене измерительных головок попадать в ту же область поверхности образца. Новый мощный контроллер, библиотека скриптов, совместимость с MAC OS делают систему гибкой для настройки именно под вашу задачу.

Особенности

HeadHiPEX™ (Head High Precision ExChange System) система предназначена для управления измерительными головками. HeadHiPEX™ осуществляет автоматическую смену встроенных (АСМ, СТМ) и дополнительных внешних головок, осуществляя их прецизионное позиционирование над образцом.

Многофункциональная система создания однородной среды вокруг образца IsoShield™. Система поддерживает вокруг образца однородную среду (постоянную температуру, контролируемый уровень влажности, пренебрежимо малый уровень паразитного электромагнитного поля; обеспечивает электростатическую изоляцию). Система также осуществляет защиту оператора от лазерных лучей при открытой измерительной ячейке.

Легкая в управлении автоматическая прецизионная система навигации образца PINpoint™ (Precision Instrument Navigation System) обеспечивает точное расположение образца и прицельное позиционирование системы видеонаблюдения.

ExpertFBA™ (Expert Fine beam Alignment System) обеспечивает автоматическую юстировку оптической системы (кантилевер — лазер — фотодиод).

Электронная система переключения размера области сканирования ScanScaler™ обеспечивает легкое автоматизированное переключение режима сканера между большими (до 100 мкм) и малоразмерными (атомарного разрешения) образцами.

Моторизованная фокусировка и увеличение (zoom) изображения.

Автоматическая настройка режимов измерений в программном обеспечении.

Все основные методики атомно-силовой микроскопии. Топография, отображение фазы, измерение электрических характеристик, возможность нанолитографии и многое другое.

Сканирующая туннельная микроскопия.

Широкий диапазон контролируемых условий для проведения эксперимента — на воздухе, в жидкости, с нагревом образца.

Емкостные низкошумящие датчики по трем координатам обеспечивают возможность метрологических измерений с атомарным разрешением.

Спецификация
Характеристика Значение
Измерительная система
Измерительные головки АСМ и СТМ (стационарные, с автоматической установкой); жидкостная и наносклерометрическая (сменные, с ручной установкой)
Доступные СЗМ методы АСМ, СТМ, наносклерометрия на воздухе АСМ, в жидкости
Система регистрации отклонений кантилевера автоматизированная юстировка
Образец
Размер до 20 мм в диаметре, до 10 мм в высоту
Вес образца до 100 г
Система сканирования
Тип сканирования образцом
Область сканирования 100x100x10 мкм (с датчиками обратной связи)
3x3x2 мкм в режиме высокого разрешения
Нелинейность, XY 0.1 % (с датчиками обратной связи)
Разрешение
Шум XY не более 0.3 нм (с датчиками обратной связи)
Уровень шума Z (RMS в полосе 10 — 1000 Гц) 0.03 нм (типично) с датчиками обратной связи
0.02 нм в режиме высокого разрешения
Система позиционирования образца
Способ позиционирования автоматизированный, привязанный к системе видеонаблюдения
Диапазон, XY 5x5 мм
Минимальный шаг 0.15 мкм
Система видеонаблюдения
разрешение 3 мкм
фокусировка моторизованная
zoom непрерывное увеличение рабочей области моторизованная
Размеры 470x210x260
Температурный контроль образца от комнатной температуры до 150° С
Платформа СОЛВЕР: СОЛВЕР Некст

Платформа СОЛВЕР: СОЛВЕР Некст

Информация предоставлена ЗАО «НТ-МДТ»

Отправить сообщение представителю компании

Специальное предложение на конфокальный рамановский дисперсионный спектрометр Renishaw inVia
A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V X Z А Б В Г Д Е И Л М Н О П Р С Т У Ф Э ВСЕ
Требуется установка AX 6600-100

Требуется установка AX 6600-100 для изготовления алмазных плёнок на подложку (технология осаждения углерода из газовой фазы CVD).

Принята

Требуется микроскоп для подсчета частиц от 2мкм по ГОСТ 17216

Нашему предприятию требуется микроскоп для подсчета частиц от 2мкм ГОСТ 17216-2001 МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ, ЧИСТОТА ПРОМЫШЛЕННАЯ, Классы чистоты жидкостей. Должна быть возможность автоматического подсчета частиц.

В обработке

НаноСкан-Компакт

Добрый день! Прошу выслать коммерческое предложение на приобретение  прибора "НаноСкан-Компакт. Сканирующий нанотвердомер" с учетом его растаможки и доставки в г. Харьков. Украина. Заранее благодарю.

В обработке

ИК-Фурье спектрометр

Необходим прибор для анализа светлых нефтепродуктов и растворителей. Просим выслать на рассмотрение коммерческое предложение на прибор с доставкой в Московскую область. Есть ли гарантии и гарантийное обслуживание, обучение персонала.

В обработке