Инструменты нанотехнологий

Park XE7. Атомно-силовой микроскоп

ООО «Промэнерголаб» предлагает атомно-силовой микроскоп Park XE7 производства Park Systems (Южная Корея).

Особенности

Экономичный выбор для инновационных исследований
Park XE7 является высокотехнологичным микроскопом, разработан компанией Park Systems. Обладая возможностями более дорогих моделей, ХЕ7 позволяет выполнить исследование своевременно и в рамках бюджета.
Безкомпромиссная производительность
Park XE7 обеспечивает выполнение точных измерений с наноразрешением. Он выдает изображения и отображает мельчайшие характеристики образцов благодаря плоскому, ортогональному и линейному сканирующим измерениям, предусмотренным уникальной АСМ архитектурой: раздельными сканерами XY и Z консольного типа. Более того, уникальный режим True Non-ContactTM обеспечивает Вас самыми четкими изображениями, скан за сканом без снижения разрешения.
Сегодня и завтра
Park XE7 сделает Вашу работу высокопроизводительной сегодня и завтра. Он предоставляет готовый доступ к большому количеству режимов измерений промышленного уровня. Вы можете использовать любой из этих режимов уже сейчас, с заделом на будущее. Кроме того, ХЕ7 располагает наиболее открытой архитектурой среди микроскопов, предлагаемых на рынке, которая позволяет интегрировать и сочетать принадлежности и инструменты при выполнении уникального исследования.
Простота эксплуатации и высокая производительность
Park ХЕ7 с удобным графическим интерфейсом и автоматизированными инструментами позволяет даже новичкам быстро разместить образец и получить требуемый скан. Установка зонда, простота замены образца и наконечника (зонда), удобство настройки лазера, эргономичные органы управления сканированием и обработка в программном приложении – все это позволяет ХЕ7 работать с максимальной продуктивностью.
Экономичный эффект выше затрат
Park ХЕ7 – это не только самый доступный исследовательский инструмент АСМ, но и самый экономичный микроскоп с точки зрения стоимости владения. Режим Park True Non-ContactTM , применяемый в ХЕ7, позволяет оператору экономить деньги на приобретение дорогостоящих зондов. АСМ имеет более длительный срок службы и более высокую обновляемость за счет отличной совместимости с широким набором режимов и опций, предлагаемых в промышленности.

Техническая информация

Точное латеральное сканирование XY в режиме «Crosstalk Elimination» (устранение помех)
    Два независимых консольных сканера XY и Z с обратной связью для сканирования поверхности образца с использованием зонда.
  • Плоское и ортогональное сканирование XY с малым остаточным искажением.
  • Очень высокое разрешение в плоскости с возможностью обнаружения сигнала менее 2нм во всем диапазоне сканирования.
  • Точное измерение высоты без необходимости в дополнительной программной обработке.
Длительный срок службы зонда, высочайшее разрешение и отсутствие повреждений на поверхности образца в режиме True Non-ContactTM
  • Скорость сервопривода Z оси в 10 раз выше по сравнению с пьезотрубкой другого АСМ.
  • Минимальный износ зонда, гарантия получения высококачественного изображения с высоким разрешением в течение длительного периода времени.
  • Минимальное нарушение или изменение поверхности образца.
  • Независимость от параметров среды в отличие от полуконтактного метода получения изображения.
Режим True Non-ContactTM
  • Ниже износ зонда = длительное сканирование высокого разрешения
  • Неразрушающий контакт зонд-образец = минимальное нарушение образца
  • Невосприимчивость к параметрам измерений (при получении результатов)
Полуконтактное изображение
  • Быстрый износ зонда = размытое сканирование низкого качества
  • Разрушающее образец взаимодействие зонд-образец = нарушение и изменение поверхности образца
  • Высокая зависимость от параметров измерений
Режим True Non-ContactТМ сохраняет четкость показаний зонда
Наконечники (зонды) АСМ настолько хрупкие, что при их контакте с образцом происходит мгновенное снижение разрешения и качества изображения. При работе с мягкими и тонкими образцами зонд может повредить образец, это приведет к неточности измерений высоты профиля, повлечет рост затрат времени и денег. Уникальный режим True Non-ContactТМ АСМ существенно увеличивает разрешение и точность полученных данных при сохранении целостности самого образца.

Основные особенности

  • Двумерный консольный сканер с диапазоном сканирования 10 мкм × 10 мкм
  • Консольный Z-сканер высокого усилия
  • Удобное крепление головки SLD по направляющей
  • Удобный держатель образца
  • Предметный столик XY с ручным управлением
  • Оптическая столик с ручным управлением
  • Управление электроникой Park XE с панелью DSP в контроллере

Режимы работы

Поддержка наиболее широкого диапазона режимов SPM и опций в промышленности
Современные исследователи нуждаются в изучении широкого диапазона физических свойств при соблюдении точности условий измерения и окружающей среды. Park Systems поддерживает наиболее широкий диапазон режимов SPM, значительное количество опций АСМ, полную совместимость и обновляемость в индустрии для современного изучения образцов.
Стандартное изображение
  • True Non-Contact AFM (реальный бесконтактный режим АСМ)
  • Basic Contact AFM (основной контактный режим АСМ)
  • Латеральная силовая микроскопия (LFM)
  • Фазовое изображение
Химические свойства (Опционально)
  • Химическая силовая микроскопия с функциональным зондом
  • Электрохимическая микроскопия (EC-STM и EC-AFM)
Температурные свойства (Опционально)
  • Сканирующая температурная микроскопия (SThM)
Электрические свойства (Опционально)
  • Режим проводимости АСМ
  • Спектроскопия I-V
  • Сканирующая микроскопия с зондом Кельвина (SKPM/KPM)
  • Сканирующая микроскопия (SKPM) высокого напряжения
  • Сканирующая емкостная микроскопия (SCM)
  • Сканирующая микроскопия сопротивления растекания (SSRM)
  • Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
  • Сканирующая туннельная спектроскопия (STS)
  • Картографирование фототоком по времени (Tr-PCM)
Оптические свойства (Опционально)
  • Рамановская спектроскопия (TERS)
  • Картографирование фототоком по времени (Tr-PCM)
Магнитные свойства (Опционально)
  • Магнитная силовая микроскопия (MFM)
  • Магнитная силовая микроскопия с регулируемым магнитным полем (TM-MFM)
Диэлектрические/пьезоэлектрические свойства (Опционально)
  • Электрическая силовая микроскопия (EFM)
  • Пьезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM)
Механические свойства (Опционально)
  • Силовая модулирующая микроскопия (FMM)
  • Наноидентификация
  • Нанолитография
Силовое измерение (Опционально)
  • Силовая спектроскопия F-D
  • Объемное силовое изображение
  • Калибровка константы жесткости термическим методом
Спецификация
Сканер Латеральный сканер XY Z сканер
Консольный одномодульный XY-сканер с замкнутым контуром управления
Сканирующий диапазон: 100 мкм x 100 мкм (50 мкм x 50 мкм или 10 мкм x 10 мкм)
Направляющий силовой Z-сканер
Сканирующий диапазон: 12мкм (дополнительно 25 мкм)
Обзор
Прямой осевой обзор поверхности образца и кантилевер
В сборе с линзой объектива 10× (линза с 20-кратным увеличением предлагается дополнительно)
Область обзора: 480 × 360 мкм
ПЗС: 1 Мегапиксель
Программа XEP XEI
Контроль системы и программа получения данных
Регулируемые параметры обратной связи в режиме реального времени
Управление скриптами с помощью внешних программ (дополнительно)
Программа для анализа данных АСМ (работает совместно с ОС Windows, Mac OS X, Linux)
Электроника
  Высокопроизводительный DSP: 600 МГц, 4800 MIPS
Не более 16 изображений с данными
Максимальный размер данных: 4096×4096 пикселей
Входы сигналов: 20 каналов 16-битных ADC на частоте 500 кГц
Выходы сигналов: 21 канал 16-битных DAC на частоте 500 кГц
Сигнал синхронизации: конец изображения, конец линии, конец пиксельных сигналов TTL
Активный Q-контроль (дополнительно)
Постоянная калибровка пружины кантилевера (дополнительно)
Соответствие СЕ
Мощность: 120 Вт
Модуль доступа сигнала (дополнительно)
Дополнительные принадлежности
Электрохимический элемент
Универсальный жидкостный элемент с температурным управлением
Предметные столики с температурным управлением
Генератор магнитного поля
Предметный столик
Ход столика XY: 13 мм x 13 мм, моторизированный (200 мм x 200 мм – дополнительно)
Ход столика вдоль оси Z: 29,5 мм
Диапазон перемещения фокусировки: 70 мм
Крепление образца
  Размер образца: до 100 мм
Толщина: до 20 мм 

Информация предоставлена Промэнерголаб, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ