Инструменты нанотехнологий

Quanta™ 3D DualBeam™. Сканирующий электронный микроскоп

Многофункциональный растровый элеектронный микроскоп с интегрированной системой фокусированного ионного пучка для структурной диагностики и автоматизированных исследований в промышленных и лабораторных условиях.

Серия Quanta™ 3D DualBeam™ (FEI Company) — сочетает в себе традиционную Сканирующую Электронную Микроскопию(СЭМ) теплового излучения с Сфокусированным Ионным Пучком (FIB) в дополнение к существующим инструментам лабораторного исследования и расширяет диапазон приложений для 3D исследования и наноанализа, ТЭМ пробоподготовки или структурной модификации поверхности образцов в нанометровом масштабе.

Quanta™ 3D DualBeam™ открывает новые возможности и эксплуатационную гибкость для инженеров и исследователей, испытывающих необходимость в получении характеристики материала, проведении анализа отказов или контроле процессов.

Модификации

Quanta 3D FEG

Quanta 3D FEG является наиболее универсальным высокого разрешения, низковакуумный СЭМ/FIB для 2D и 3D исследования материала и анализа. Обладая возможностью трех режимов съемки — высокого вакуума, низкого вакуума и ЕСЭМ, он вмещает широкий спектр образцов любой системы SEM. Quanta 3D FEG инновационный источник излучения электронов обеспечивает яркое и четкое изображение электрона, и увеличение потока электронного пучка улучшает результаты ЭЦП и EBSP анализа. Эта система также предлагает возможности для исследования на месте динамического поведения материалов на различных уровнях влажности (до 100% относительной влажности) и температуры (до 1500 ° С).

Quanta 3D

Quanta 3D открывает новые возможности и эксплуатационную гибкость для инженеров и исследователей, испытывающих необходимость в получении характеристики материала, проведении анализа отказов или управлении процессами в промышленности или научной среде. Он сочетает в себе традиционную Сканирующую Электронную Микроскопию (СЭМ) теплового излучения с Сфокусированным Ионным Пучком (FIB) в дополнение к существующим инструментам лабораторного исследования и расширяет диапазон приложений для 3D исследования и наноанализа, ТЭМ пробоподготовки или структурной модификации поверхности образцов в нанометровом масштабе. Quanta 3D отличается от обычных СЭМ интегрированными возможностями микро-секционирования необходимыми для изучения подповерхности образца. Quanta 3D спроектирована только для того, чтобы быть просто — 3D-СЭМ.

Quanta 3D 200i

Quanta 3D 200i является исследовательским инструментом, предназначенным для изучения материалов, проведения анализа дефектов и подготовки образцов в промышленной или научной среде. Объединяя Quanta сканирующий электронный микроскоп (SEM) с сильноточным сфокусированным пучком ионов (FIB), создается универсальное решение для анализа и модификации материалов, простое в использовании и обладающее достаточной гибкостью, чтобы справиться с любым типом образцов. Вольфрамовый СЭМ с увеличенной проводимостью обеспечивает идеальную визуализацию субмикронных структур, в то время как высокоточная ионная колонка может быть использована для точной подготовки образца путем удаления или сдачи материала быстрыми темпами в малых определенных областях. Quanta 3D 200i даст Вашей лаборатории возможность изучения нового способа быстрого приготовления образца, 3D наноанализа, ТЭМ, ESBD и подготовки образца для атомного зонда или структурной модификации поверхности образцов в нанометровом масштабе.

Спецификации

Quanta 3D 200i
Электроннолучевое разрешение: 3.5 nm @ 30 kV @ режим высокого вакуума
Ускоряющее напряжение: 200V — 30kV
Ток: до 1 μA
Ионнолучевое разрешение: 10 nm @ 30 kV @ 1 pA
Quanta 3D FEG
Electron Beam Resolution:
  • 1.2nm at 30kV (high SE)
  • 1.5nm at 30kV(low SE)
Accelerating Voltage: 200V — 30kV
Probe Current: up to 200nA
Magnification: 30 x — 1280 kx in «quad» mode
Ion Beam Resolution: 7 nm at 30 kV

Дополнительные материалы:

Информация предоставлена Technoinfo Limited

Рубрикатор

Специальное предложение на конфокальный рамановский дисперсионный спектрометр Renishaw inVia
РОСНАНО - Государственная корпорация Роснанотех

Все проекты РОСНАНО

Последние поступления

Новости от RedTram

Поиск оборудования

A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V X Z А Б В Г Д Е И Л М Н О П Р С Т У Ф Э ВСЕ
Форма заказа оборудования

Текущие запросы

Требуется установка AX 6600-100

Требуется установка AX 6600-100 для изготовления алмазных плёнок на подложку (технология осаждения углерода из газовой фазы CVD).

Принята

Требуется микроскоп для подсчета частиц от 2мкм по ГОСТ 17216

Нашему предприятию требуется микроскоп для подсчета частиц от 2мкм ГОСТ 17216-2001 МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ, ЧИСТОТА ПРОМЫШЛЕННАЯ, Классы чистоты жидкостей. Должна быть возможность автоматического подсчета частиц.

В обработке

НаноСкан-Компакт

Добрый день! Прошу выслать коммерческое предложение на приобретение  прибора "НаноСкан-Компакт. Сканирующий нанотвердомер" с учетом его растаможки и доставки в г. Харьков. Украина. Заранее благодарю.

В обработке

ИК-Фурье спектрометр

Необходим прибор для анализа светлых нефтепродуктов и растворителей. Просим выслать на рассмотрение коммерческое предложение на прибор с доставкой в Московскую область. Есть ли гарантии и гарантийное обслуживание, обучение персонала.

В обработке