Инструменты нанотехнологий

Triboindenter TI 950. Сканирующий наноиндентор

ООО «Промышленный мониторинг и контроль» предлагает Triboindenter TI 950 — самый продвинутый сканирующий наноиндентор на рынке.

TI 950 Triboindenter™ представляет собой единую платформу, реализующую технологии компании Hysitron Inc. в области наномеханических испытаний. Это высокопроизводительный инструмент, обладающий непревзойдённой стабильностью и гибкостью для реализации различных методик для широкого диапазона материалов и различных конфигураций образцов.

Система предлагает уникальную конструкцию датчика-преобразователя, и обладает самым широким диапазоном нагрузок на рынке 30 нН — 10 Н. Машина обладает гибкой архитектурой — в дальнейшем возможно лёгкое добавление компонентов, замена электроники следующим поколением, инсталляция новых методик и т.д.

Все сервисные процедуры и калибровки до предела упрощены и автоматизированы — система может полностью обслуживаться заказчиком. Компания Hysitron Inc. — единственный производитель гарантирующий демонстрацию заявленных характеристик в лаборатории заказчика.

  • В системе TI 950 используется запатентованная конструкция ёмкостного датчика-преобразователя, известного как решение, обладающее лучшими показателями чувствительности и стабильности на рынке. Электростатическое возбуждение лишено проблемы дрейфа из-за нагрева компонентов датчика.
  • Функция In-Situ визуализации позволяет добиться нанометрового разрешения позиционирования области анализа одновременно с удобством SPM методики для получения снимков участков, на которые было произведено воздействие.
  • Средства термической и акустической изоляции, наряду с конструкцией датчика позволяют добиться минимального времени настройки и стабилизации системы.
  • Широкий выбор опций и методик для последующего расширения системы.

Режимы тестирования в стандартной комплектации:

  • Квазистатическое наноиндентирование — измерение модуля Юнга, твёрдости, вязкости разрушения и других механических свойств посредством индентирования.
  • Скретч-тест — определение сопротивления царапанию, критическая нагрузка деламинации, коэффициенты трения и т.д. с одновременным мониторингом латеральной и нормальной нагрузки.
  • Оптическая система — цветная CCD камера для идентификации структур перед тестированием.
  • SPM визуализация — In-situ визуализация для позиционирования с нанометровой точностью и получения SPM снимков топографии.
  • ScanningWear™ — наблюдение и квантификация объёмов износа и скорости износа с помощью In-Situ визуализации.
  • Управление с обратной связью — работа в режиме замкнутого цикла нагрузки или контроля смещения для исследования ползучести и релаксации напряжений.

Опциональные модули:

  • nanoDMA™ — исследование свойств с временной зависимостью с помощью динамической методики разработанной для полимеров и биоматериалов.
  • Modulus Mapping — количественное картирование жёсткости, модулей накопления и потерь и др. по SPM изображению.
  • TriboAE™ — исследование растрескивания, деламинации и фазовых переходов, проявляющихся при наноразмерных контактах.
  • AFM imaging — опция атомно-силовой микроскопии, для сверхнизкой контактной нагрузки при исследовании мягких полимеров и биоматералов.
  • Нанозонд для режимов высокой нагрузки (до 10 Н)
  • Термоконтроль — держатель с функцией нагрева и охлаждения
  • Вакуумная присоска — система для фиксации пластин без необходимости повреждения образца
  • NanoECR™ — электромеханические испытания, проводимые одновременно с индентацией для исследования процесса деформации и явлений индуцированных приложенным напряжением.

Большое количество доступных режимов испытания, а также методики, которые только находятся в разработке, делают прибор мощным комплексом для широкого спектра применений уже сейчас и надёжной платформой для расширения в будущем.

Программное обеспечение TriboScan 9

  • Непрерывная работа двух измерительных головок (только для TI950);
  • Увеличенная в 5 раз скорость работы по сравнению с предыдущей версией ПО;
  • Ультрачувствительное измерение силы непосредственно перед контактом индентора с поверхностью;
  • Непрерывная зависимость модуля Юнга и твердости от глубины индентирования в ходе динамических испытаний; Перемещения по осям в 20 мкм с использованием стандартных емкостных преобразователей;
  • Коррекция обратной связи с частотой 78 кГц для наиболее точного обеспечения процессов индентирования;
  • Увеличенная скорость in-situ изображения и улучшенная система картирования характеристик для построения поверхностей благодаря новому RAPIDprobe индентору;
  • Возможность контроля за полнотой доступа к функциям разных пользователей.

Области применения

  • Биоматериалы
  • Медицинские материалы
  • Специальные материалы и сплавы
  • Электроника и полупроводники
  • Метриалы для энергетики
  • Полимеры и смеси
  • Трибология

Информация предоставлена Группа Ай-Эм-Си, ООО

Отправить сообщение представителю компании

2 9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Z А Б В Г Д Е И К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Э ВСЕ